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문제 정의
- 본 논문에서는 DC 오프셋 전류를 가지며 암(arm) 전류를 선형적으로 근사화한 시험 전류를 이용하여 SM의 성능을 시험하는 새로운 회로를 제안하고 제안한 회로를 제어하는 기법에 관하여 제시하였다. 이를 시뮬레이션을 통해 타당성을 검증하였다.
- 본 논문에서는 새로운 HVDC MMC용 SM 시험회로를 제안하고 이를 위한 제어기법을 제안하였다. 제안하는 시험회로와 제어기법을 시뮬레이션을 통해 타당성을 검증하였다.
가설 설정
- 시험회로의 입력 전압은 시험할 SM의 커패시터 전압의 평균과 같으며 V1은 시험전류의 형태에 따라 자유롭게 변경할 수 있으며, 시험회로 동작 분석을 위해 커패시턴스가 충분히 커서 이상적인 전압원으로 간주하였다. 본 논문에서 V1은 SM 커패시터 전압의 0.75배로 가정하였다. 시험전류의 주파수가 계통 주파수이기 때문에 시험전류의 상승, 하강 기울기는 시험회로 내 인덕터의 인덕턴스로 정해지며 식 (2)을 이용해 구할 수 있다.
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