[논문]TMS320F28377D 기반 아날로그-디지털 신호 처리 시스템

김형우; 남기곤; 최준영

doi:10.14372/iemek.2019.14.1.33

[국내논문] TMS320F28377D 기반 아날로그-디지털 신호 처리 시스템
Analog-Digital Signal Processing System Based on TMS320F28377D 원문보기

대한임베디드공학회논문지 = IEMEK Journal of embedded systems and applications, v.14 no.1, 2019년, pp.33 - 41

김형우 (Pusan National University) , 남기곤 (Pusan National University) , 최준영 (Pusan National University)

Abstract ▼ AI-Helper

We propose an embedded solution to design a high-speed and high-accuracy 16bit analog-digital signal processing interface for the control systems using various external analog signals. Choosing TMS320F28377D micro controller unit (MCU) featuring high-performance processing in the 32-bit floating point operation, low power consumption, and various I/O device supports, we design and build the proposed system that supports both 16-bit analog-digital converter (ADC) interface and high precision digital-analog converter (DAC) interface. The ADC receives voltage-level differential signals from fully differential amplifiers, and the DAC communicates with MCU through 50 MHz bandwidth high-fast serial peripheral interface (SPI). We port the boot loader and device drivers to the implemented board, and construct the firmware development environment for the application programming. The performance of the entire implemented system is demonstrated by analog-digital signal processing tests, and is verified by comparing the test results with those of existing similar systems.

주제어

표/그림 (16)

그림 그림 1. THS4551을 이용한 차동 신호 변환 Fig. 1 Differential signal conversion using THS4551
그림 그림 2. 아날로그 부 시스템 공급 전압 설정 Fig. 2 Analog subsystem supply voltage configuration
그림 그림 3. DAC8562와 TMS320 간 McBSP 인터페이스 Fig. 3 McBSP interface between DAC8562 and TMS320
그림 그림 4. DAC8562와 TMS320 간 일반적인 SPI 인터페이스 Fig. 4 General SPI interface between DAC8562 and TMS320
그림 그림 5. 아날로그 신호 처리 시험 환경 Fig. 5 Analog signal processing test environment
그림 그림 6. 차동 입력 신호 변환 시험 결과 Fig. 6 Test result of differential input signal conversion
그림 그림 7. 아날로그 신호 출력 시험 결과 Fig. 7 Test result of analog signal output
그림 그림 8. 아날로그 신호 입 출력 통합 시험 구성 Fig. 8 Configuration of integrated analog signal input/output test
그림 그림 9. 아날로그 신호 입, 출력 지연 측정 시험 결과 Fig. 9 Test result of analog signal input/output delay mesurement
그림 그림 10. 아날로그 신호 입, 출력 처리 지연 요소 Fig. 10 Delay components of analog signal input/output process
표 표 1. 아날로그 신호 입, 출력 지연 측정 결과 (단위:microsecond) Table 1. Measurement result of analog signal input/output delay
그림 그림 11. 아날로그 신호 입, 출력 오차 측정 결과 (1.0167V 입력) Fig. 11 Mesurement result of analog signal input/output error (1.0167V input)
그림 그림 12. 아날로그 신호 입, 출력 오차 측정 결과 (2.0019V 입력) Fig. 12 Mesurement result of analog signal input/output error (2.0019V input)
표 표 2. 아날로그 신호 입, 출력 오차 측정 결과 Table 2. Measurement result of analog signal input/output error
표 표 3. ADC 처리 지연 및 선형성 비교 Table 3. Comparison of ADC processing delay and linearity
표 표 4. DAC 처리 지연 및 선형성 비교 Table 4. Comparison of DAC processing delay and linearity

AI 본문요약
AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

본 논문에서는 다양한 분야에서 그 수요가 증가하고 있는 임베디드 시스템 중 다양한 외부신호를 포함한 제어시스템을 위한 임베디드 시스템에 적합한 용도로써 저비용으로 고속, 고정밀의 아날로그- 디지털 신호처리 인터페이스를 설계하는 솔루션을 제안한다.
10MSPS 이상의 샘플링 주기를 확보하려면 분해능이 16bit 미만이 되어야 하며, 16bit 이상의 전압 출력형 DAC 칩의 경우 1MSPS 이상의 샘플 획득 속도의 확보가 불가능하다. 이에 따라 본 논문에서는 정밀 DAC 군에 속한 컨버터 중 다양한 분야에 적용이 용이하며 저전력으로 높은 신뢰성을 보여주는 DAC8562 [10]를 이용하여 MCU를 포함한 DAC 인터페이스를 설계한다.

제안 방법

제안한 신호 처리 시스템을 위해 제작한 하드웨어를 이용한 신호처리 실험을 위한 소프트웨어 제작을 위해 Windows 운영체제 기반 호스트 PC에 CCS (Code composer studio) 통합 개발 환경을 이용하였다. CCS 통합 개발 환경을 이용하여, FDA를 통해 차동 신호 형태로 변환된 입력 신호를 MCU ADC 인터페이스를 통해 16비트 분해능으로 디지털 신호로 샘플링하고, 샘플링 한 디지털 신호를 MCU의 SPI 통신 모듈을 통해 8비트 명령어와16비트 데이터로 이루어진 프레임을 DAC8562로 전송하도록 하는 펌웨어를 제작하였다. 제작한 펌웨어는 xds100v3 디버거 툴을 이용, 구현한 임베디드 하드웨어에 다운로드 하여 그 동작을 검증한 후, 각각의 인터페이스에 대한 성능 검증에 활용하였다.
디지털 신호 처리 시 발생하는 잡음의 영향을 최소화하기 위해 그림 2와 같이 아날로그 부 시스템 공급 전압을 별도로 설정하되, 같은 공급 전압원을 FDA에 인터페이스 해줌으로써 공통모드 전압을 일치시킴과 동시에 FDA와 MCU ADC 인터페이스의 공급 전압 차에서 발생하는 노이즈를 최소화 할 수 있는 형태로 결선하였다.
제안하는 시스템 내 16비트 DAC 인터페이스는 선정한 프로세서를 포함, TI 社, NI 社, STM 社 와 같은 주요 임베디드 솔루션 회사에서 출시하는 32비트 MCU와 같이 12bit 분해능 만을 지원한다. 따라서, 일반적인 3.3V의 공급전압 기준 비트당 0.8mV 단위로 출력됨으로써, 16비트의 0.05mV 단위보다 16배 낮은 출력 정밀도를 가진다는 점을 보완하여, DAC 인터페이스를 설계하였다.
별도의 DAC 인터페이스 구성을 위해 분해능, 샘플링 주기, 전력소모량 등을 기준으로 다양한 분류군으로 나누어진 DAC 소자 중 4달러 수준의 비용에 (3달러~220달러 수준으로 분포) 0.5mW 전력소모량 (0.33mW~3800mW 수준으로 분포)으로 16비트 분해능을 갖는 TI 社 DAC8562 [10]를 MCU와 고속 SPI 통신을 이용하여 연결하였다.
설계한 ADC 인터페이스의 경우 지연시간 최소화를 위한 고속 데이터 광 전송용 ADC [8]가 갖는 3μs~6μs 수준 보다 3~6배 줄어든 지연이 측정됨으로 그 설계의 우수성을 확인할 수 있다. 본 논문에서는 [8, 9]의 경우와 같이 ADC 혹은 DAC 단일인터페이스에 대한 성능 시험만 하지 않고, ADC를 통한 아날로그 신호 입력으로부터, MCU 연산을 거쳐 DAC를 통한 아날로그 신호 출력까지의 전체 시스템 동작에 대한 통합 지연 및 정밀 성능을 시험한다.
본 논문에서는 먼저 제안한 아날로그 신호 처리부 설계 방법을 제시하고, 성능 검증을 위한 시험에 대해 서술하고, 결론을 제시한다.
본 논문에서는 부동소수점 연산 성능의 극대화를 위해 Trigonometric Math Unit (TMU) 가속기 및 Viterbi, Complex Math, and CRC Unit (VCU) 가속기 등을 내포하고 있어 고속의 폐루프 제어용 임베디드 CPU로 가장 많이 사용되고 있는 TI 社의 TMS320 계열 Microcontroller Unit (MCU)[6] 중 C28x 코어를 기반으로 하는 TMS320F28377D MCU [7]를 이용하여 저비용, 고효율의 16비트 아날로그-디지털 신호 처리부를 설계한다.
설계한 시스템은 임베디드 하드웨어 형태로 구현하였으며, 성능 평가를 위하여 펌웨어 형태로 제작된 사용자 정의 매개변수 기반으로 동작하는 소프트웨어를 이용하여 Analog-Digital Converter(ADC), Digital-Analog Converter (DAC) 및 통합 아날로그 신호 처리 인터페이스에 대한 성능을 시험하였다.
아날로그 부 시스템을 위한 아날로그 전원과 디지털 전원 공급을 위해 보드 내 별도의 SMPS(Switching mode power supply)를 각각 탑재하였다. 또한, 시험 시 필요한 외부 신호를 인가해주기 위해 LG 社의 DC Power Supply 인 GP-4303TP 모델을 사용하였으며, 각각의 부분에서의 전압 파형을 측정하기 위해 Rohde&Schwarz 사의 RTE1034 오실로 스코프를 사용 하였다.
아날로그-디지털 인터페이스를 통해 얻어진 단일 입력 형태의 아날로그 값에 대한 디지털 값을 디지털-아날로그 인터페이스를 통해 그대로 출력할 때, 입, 출력 처리 지연을 측정하는 시험을 그림 8과 같은 구성의 시험을 통해 수행한다.
제안하는 시스템의 16 비트 ADC 인터페이스는 처리지연의 최소화 및 높은 정밀성을 보장하기 위해 DSP 내부의 16비트 ADC 를 이용하되, 별도의 완전 차동 증폭기 [11]를 이용하여 외부 단일 신호 입력에 대한 차동 입력을 인가해주도록 함으로써, 최소 오차의 성능이 가능하도록 설계하였다.
제안한 신호 처리 시스템을 위해 제작한 하드웨어를 이용한 신호처리 실험을 위한 소프트웨어 제작을 위해 Windows 운영체제 기반 호스트 PC에 CCS (Code composer studio) 통합 개발 환경을 이용하였다. CCS 통합 개발 환경을 이용하여, FDA를 통해 차동 신호 형태로 변환된 입력 신호를 MCU ADC 인터페이스를 통해 16비트 분해능으로 디지털 신호로 샘플링하고, 샘플링 한 디지털 신호를 MCU의 SPI 통신 모듈을 통해 8비트 명령어와16비트 데이터로 이루어진 프레임을 DAC8562로 전송하도록 하는 펌웨어를 제작하였다.

데이터처리

CCS 통합 개발 환경을 이용하여, FDA를 통해 차동 신호 형태로 변환된 입력 신호를 MCU ADC 인터페이스를 통해 16비트 분해능으로 디지털 신호로 샘플링하고, 샘플링 한 디지털 신호를 MCU의 SPI 통신 모듈을 통해 8비트 명령어와16비트 데이터로 이루어진 프레임을 DAC8562로 전송하도록 하는 펌웨어를 제작하였다. 제작한 펌웨어는 xds100v3 디버거 툴을 이용, 구현한 임베디드 하드웨어에 다운로드 하여 그 동작을 검증한 후, 각각의 인터페이스에 대한 성능 검증에 활용하였다.

이론/모형

또한, 시험 시 필요한 외부 신호를 인가해주기 위해 LG 社의 DC Power Supply 인 GP-4303TP 모델을 사용하였으며, 각각의 부분에서의 전압 파형을 측정하기 위해 Rohde&Schwarz 사의 RTE1034 오실로 스코프를 사용 하였다.

성능/효과

32비트 부동소수점 연산을 위한 마이크로컨트롤러 유닛 중 대표적으로 많이 사용하는 TMS320 계열의 MCU 중 TMS320F28377D를 기반으로 16비트 아날로그-디지털 신호 처리 시스템을 설계하되, 아날로그 신호 입력단에 차동 신호 변환 인터페이스가 필요하다는 점과 출력단에 별도의 16비트 디지털 아날로그 인터페이스가 필요하다는 점을 보완하였다.
50MHz SPI로 DAC 소자를 제어하였을 때, 최종 아날로그 출력까지의 경과 시간은 500ns로 측정되며, [10]에 표기된 지연 기대 값인 480ns~520ns 내의 값으로 측정된 상기 지연 값으로부터, 설계한 디지털-아날로그 변환부가 MCU의 고속 SPI 통신을 이용하여 최적의 성능을 달성함을 확인하였다. 이를 통해, 제안한 고속 SPI 통신 기반 아날로그 신호 출력 인터페이스가 최소한의 지연을 갖고, 예측 가능한 시점에 출력됨을 알 수 있다.
MCU의 아날로그 부 시스템으로 인가될 신호의 정밀도와 지연 시간을 측정하기 위한 시험으로써 그림 6에 표시 된 바와 같이, 3V의 신호를 FDA로 인가시켜 주면, 공통모드 전압을 기준으로 오차없이 인가됨을 알 수 있고, 그때, 0V의 신호를 3V의 신호로 인가하는 동안 걸리는 시간은 834.8ns이며, FDA 소자에 의해 지연되는 시간은 대략 40ns 임을 알 수 있다.
[8]에서 제안된 지연시간 최소화를 위한 고속데이터 광전송용 ADC는 3μs~6μs 시간지연을 나타내었고 본 논문에서 설계한 ADC의 경우 이보다 3~6배 줄어든 최대 1μs의 지연을 달성하였는데, 이는 본 논문에서 제안된 ADC 인터페이스의 우수성을 증명한다.
또한 ADC 입력 신호를 1V/V 이득을 가진 채 DAC로 출력하는 시험을 통해 측정된 오차 성능의 경우, 서로 다른 입력신호에 대해 16비트 분해능 대비 30비트의 일정한 오차 값을 나타내어 오차율 0.04%로 측정 되었으며, 각각의 입, 출력 영역에서의 선형성을 확인할 수 있었다.
상기 실험을 통하여 [8]에서 제안한 고속 데이터 광 전송용의 ADC 인터페이스 대비 최소 3배에서 최대 6배 줄어든 처리 지연을 확인 할 수 있으며, 이는 표 3에 도시된 바와 같다. 또한, DAC 인터페이스의 경우 저 비용으로 운용 가능한 TI 社 DAC8562 IC를 이용한 시스템 [10] 및 관련 선행 시스템 [14, 15] 대비 약 2.3배 줄어든 처리지연을 가짐과 동시에 선형성에 대한 오차 시험에서 0.04%의 오차율을 측정 할 수 있었다. 이는 표 4에 도시된 바와 같다.
또한, 설계한 아날로그 신호 처리 인터페이스를 이용, ADC로 입력된 아날로그 신호를 DAC로 출력하는 시험을 통해, MCU와 SPI 통신에서의 각각의 처리 지연 평균 1.283μs, 500ns를 포함하되, FDA(Fully differential amplifier) [11]와 DAC에서의 전압 합성 정착시간을 고려하여 입, 출력 차가 1V의 경우 3.9μs, 2V의 경우 5.8μs의 처리 지연이 측정되었다.
또한, 표 2에 도시된 바와 같이 FDA를 포함한 아날로그-디지털 변환 부와 DAC8562 소자를 포함한 디지털-아날로그 변환 부 구현 시 발생하는 오프셋 오차가 동일한 값으로 얻어지므로, 본 논문에서 제안한 아날로그-디지털 신호처리 시스템의 우수한 정밀성을 확인 할 수 있다.
설계 한 전체 시스템을 하드웨어로 구현하여 직접 진행한 시험 결과 입, 출력 전압 차에 따라 변경되는 전압 합성 시간에 종속적으로 최소한의 지연만으로 아날로그 신호를 처리하는 성능과 함께, 디지털 부와 아날로그 부에 공급되는 전원의 위상차에 종속적으로 나타나는 오차율로써 MCU 연산처리부에서 보상하여 제거가 가능한 측정 오차 만을 갖는 우수한 성능을 나타냄을 검증하였다.
오차 측정 시험 결과를 정리한 표 2에서 볼 수 있듯이 임의의 두 가지 입력 신호에 대해 6.6V 영역 내 (-3.3V~3.3V) 16비트 분해능 기준 30비트의 오차가 동일하게 나타나는데, 오차율로 산정할 경우, +0.04%로 일정한 값을 가진다. 이는 공급전압 조건을 포함하여 구현 과정에서 발생하는 오프셋 오차로 간주 할 수 있으며, 설계한 시스템의 MCU 인터페이스를 통해 보정 될 수 있는 형태이다.
50MHz SPI로 DAC 소자를 제어하였을 때, 최종 아날로그 출력까지의 경과 시간은 500ns로 측정되며, [10]에 표기된 지연 기대 값인 480ns~520ns 내의 값으로 측정된 상기 지연 값으로부터, 설계한 디지털-아날로그 변환부가 MCU의 고속 SPI 통신을 이용하여 최적의 성능을 달성함을 확인하였다. 이를 통해, 제안한 고속 SPI 통신 기반 아날로그 신호 출력 인터페이스가 최소한의 지연을 갖고, 예측 가능한 시점에 출력됨을 알 수 있다.
제안하는 시스템 내 16비트 DAC 인터페이스는 선정한 프로세서를 포함, TI 社, NI 社, STM 社 와 같은 주요 임베디드 솔루션 회사에서 출시하는 32비트 MCU와 같이 12bit 분해능 만을 지원한다. 따라서, 일반적인 3.
한편 본 논문에서 개발된 시스템은 ADC 인터페이스의 경우 1μs ~ 3μs 의 처리지연과 0.04%의 오차율을 달성하고, DAC 인터페이스의 경우 3.578μs의 평균 지연시간과 0.04%의 선형성 오차율을 달성하였다.

후속연구

04%의 선형성 오차율을 달성하였다. 이러한 결과는 기존 시스템 보다 우수한 성능을 나타내며 개발된 시스템은 결과적으로 보다 높은 응답성 및 정밀성을 요구하는 임베디드 시스템에 적용될 수 있다.
제안한 아날로그 신호처리 시스템은 다양한 임베디드 시스템 분야 중 고속, 고정밀의 아날로그 신호처리가 요구되는 분야에서 사용자의 요구사항에 맞도록 적용되어 그 활용성이 높을 것으로 사료된다.

질의응답

핵심어	질문	논문에서 추출한 답변
	DAC8562는 어떤 크기의 직렬 통신 인터페이스를 채택하고 있는가?	DAC8562의 경우 TMS320 계열 마이크로프로세서와의 통신인터페이스로 McBSP를 권장하고 있다. DAC8562는 24bit 프레임 크기의 직렬 통신 인터페이스를 채택하고 있는데, 이는 8bit의 명령어와 주소에 16bit 데이터를 포함하는 크기이다. TMS320 계열 마이크로프로세서의 경우 최대 16bit 크기의 직렬통신을 지원하지만 McBSP의 경우 원하는 크기의 프레임을 보낼 수 있다.
	DAC8562의 경우 TMS320 계열 마이크로프로세서와의 통신인터페이스로 무엇을 권장하고 있는가?	DAC8562의 경우 TMS320 계열 마이크로프로세서와의 통신인터페이스로 McBSP를 권장하고 있다. DAC8562는 24bit 프레임 크기의 직렬 통신 인터페이스를 채택하고 있는데, 이는 8bit의 명령어와 주소에 16bit 데이터를 포함하는 크기이다.
	DAC 칩은 샘플링 주기에 따라 어떻게 고속 DAC와 정밀 DAC로 분류되는가?	분류 기준은 샘플링 주기로써 단위는 MSPS (Mega Samples Per Second)를 사용한다. 샘플링 주기가 10MSPS 이상일 때, 고속 DAC 군으로 분류하며 일반적으로 이것이 1MSPS 이하일 때 정밀 DAC 군으로 분류한다.

참고문헌 (15)

G. Linden, B. Smith, J. York, "Embedded Systems Secure Path Verification at the Hardware/Software Interface," Journal of IEEE Design & Test, Vol. 34, No. 5, pp. 38-46, 2017.

상세보기
H.W. Kim, B.H. Sheen, H.S. Wi, J. Y. Choi, "Development of Low-Cost Solar Embedded Systems for Sun Light Systems", Journal of Korean Institute of Information Technology, Vol. 14, No. 1, pp. 19-26, 2016. (in Korean)
D.S. Jang, "Development of Falling-sensing Terminals and a System with Relay Function," IEMEK J. Embed. Sys. Appl., Vol. 11, No. 3, pp. 173-181, 2016 (in Korean).
H. Xing, H. Jiang, D. Chen, and R. Geiger, "A Fully Digital-compatible BIST Strategy for ADC Linearity Testing," Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 1-10, 2007.
T.S. Kang, M.S. Kim, S.Y. L, Y.C. Kim, "Modeling and a Simple Multiple Model Adaptive Control of PMSM Drive System", Journal of Power Electronics, Vol. 17, No. 2, pp. 442-452, 2017.

원문보기 상세보기
Y. Hoon, M.A.M. Radzi, M.K. Hassan, N.F. Mailah, N.I.A. Wahab, "A Simplified Synchronous Reference Frame for Indirect Current Controlled Three-level Inverter-based Shunt Active Power Filters", Journal of Power Electronics, Vol. 16, No. 5, pp. 1964-1980, 2016.

원문보기 상세보기
Avaliable on : http://www.ti.com/lit/ug/spruhm8g/spruhm8g.pdf
J.D. Park, "Development of the ADC for Mobile Communication Repeater with in $3{\mu}s$ Delay Time", Journal of Korean Institute of Information Technology, Vol. 15, No. 2, pp. 61-67, 2017 (in Korean).
S.U. Sung, S.H. Shin, C.Y. Joo, S.J. Kim, K.S. Yoon, “I-Q Channel 12bit 1GS/s CMOS DAC for WCDMA,” Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea-Semiconductor and Devices, Vol. 45, No. 1, pp. 56-63, 2008 (in Korean).
Avaliable on : http://www.ti.com/lit/ds/symlink/dac7562.pdf
Avaliable on : http://www.ti.com/lit/ds/symlink/ths4551.pdf
S. M. Max, "Testing High Speed High Accuracy Analog to Digital Converters Embedded in Systems on a Chip," Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 763-771, 1999.
John Hyde, Todd Humes, Chris Diorio, Mike Thomas, Miguel Figueroa, “A 300-MS/s 14-bit Digital-to-Analog Converter in Logic CMOS,” Journal of IEEE Solid-State Circuits, Vol. 38, No. 5, pp. 734-740, 2003.

상세보기
Mike P. Tiilikainen, “A 14-bit 1.8-V 20-mW 1mm2CMOSDAC,” Journal of IEEE Solid-State Circuits, Vol. 36, No. 7, pp. 1144-1147, 2001.

상세보기
Yonghua Cong, Randall L. Geiger, "A 1.5-V 14-Bit 100MS/s Self-Calibrated DAC," Journal of IEEE Solid-State Circuits, Vol. 38 No. 12, pp. 2051-2060, 2003.

상세보기

저자의 다른 논문 :

LOADING...

표제어: PCR

동의어: Packet Collision Rate

용어 설명 출처 목록 (6)

용어 설명: PCR은 세균 특이성이 있는 primer를 이용하여 적은 수의 세균이 있을지라도 쉽게 검출할 수 있는 유용한 방법이며, 이를 이용하여 구강 내 치면세균막이나 타액에서 직접 세균을 검출할 수 있게 되었다[8].

내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 논문명, 저널/프로시딩명, 저자 , 발행년, 권, 호, 시작페이지, 끝페이지, 발행기관 관리번호, 논문명, 대등논문명, 저자 , 저널/프로시딩명, 발행기관, 발행년, 발행언어, 권, 호, 시작페이지, 끝페이지, ISBN, ISSN, 주제분야, 키워드, 초록(한글), 초록(영문), 저자(소속기관)
저장형식	Text(ASCII format) Excel format RefWorks Direct Export RIS format (for Reference Manager, ProCite, EndNote), Scholar's Aids, Mendeley
메일정보	받는사람 (필수) @ 보내는사람 (선택) @ 제목 내용 KISTI 검색결과 이메일 서비스
안내	총 건의 자료가 검색되었습니다. 다운받으실 자료의 인덱스를 입력하세요. (1-10,000) 검색결과의 순서대로 최대 10,000건 까지 다운로드가 가능합니다. 데이타가 많을 경우 속도가 느려질 수 있습니다.(최대 2~3분 소요) 다운로드 파일은 UTF-8 형태로 저장됩니다. 파일의 내용이 제대로 보이지 않을실 때는 웹브라우저 상단의 보기 -> 인코딩 -> 자동선택 여부를 확인하십시오. ~ Text(ASCII format) Excel format

연합인증