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[국내논문] 케리어의 농도와 이동도 사이의 반비례 특성을 갖는 미소전류 효과
Microcurrent Effect with Inverse Proportional Characteristics between the Concentration and Degree of Movement of the Carrier 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.18 no.1, 2019년, pp.70 - 73  

오데레사 (청주대학교 반도체공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

It was confirmed that current flowing in thin films below nm increases conductivity in diffusion currents by holes rather than electric currents by electrons. ZTO thin film, which was heat treated at $150^{\circ}C$, increased electron concentration, and thus increased capacitances. Howeve...

주제어

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문제 정의

  • 홀측정기를 이용하여 이동도, 저항과 케이어 농도를 측정하여 전기적인 특성에 미치는 상관성을 조사하였다. 반도체 계면의 전기적인 특성에 대하여도 조사하였다.
  • 본 연구에서는 ZTO 박막의 열처리를 통하여 전자와 정 공에 의한 전도메카니즘에 대하여 알아보았다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
ZTO 박막이 온도에 따라 전기적 특성이 달라지는 이유는? 150도에서 커패시턴스 값은 가장 높게 나타나며 차단특성도 150도에서 우수하게 나타났다. 온도에 따라서 전기적인 특성이 달라지는 이유는 ZTO의 전도성이 온도에 의존하기 때문이며, 온도에 따라서 문턱전압이 달라지고 에너지 갭이 달라지기때문이다. 문턱전압 혹은 에너지 갭은 반도체의 특성을 결정하는 요소이며, 반도체 소자내의 케리어의 특성이 달라지기 때문에 나타나는 현상이라고 볼 수 있다.
ZTO 박막의 전도성에 영향을 미치는 케리어는 무엇이 있는가? 열처리온도가 전도성케리어의 형성에 따라서 달라진다는 의미이다. ZTO 박막의 전도성에 영향을 미치는 케리어는 전자와 전공 혹은 산소공공이 있다. 전자와 정공은 전기적으로 특성이 다른 양전하와 음전하에 해당한다.
전류의 터널링효과에 관한 연구가 많이 이루어지고 있는 이유는? 또한 누설전류는 낮은 전류범주에서 나타나 신호전류와 혼돈을 일으킬 수도 있으며, 낮은 전류에서의 효과로서 터널링효과에 대한 연구도 많이 이루어지고 있다.[5-7] 소자의 사이즈가 작아지면서 낮은 전류에 대한 신호처리의 문제가 중요해지고 있기 때문이다. 반도체를 이용하는 소자들은 전자 혹은 정공에 의해서 발생하는 전류에 의해서 전도가 이루어진다.
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참고문헌 (10)

  1. Gilsang Yoon, Junyoung Lee, Iksoo Park, Bo Jin, Rock-Hyun Baek, Hyun-jin Shin and Jeong-soo Lee, "Formation of nanonet structure using polystyrene nanoparticle for highperformances TFT applications," Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 17, No. 3, pp. 36-40, (2018). 

  2. Sang-Heon Lee, Keon-Tae Park, and Young-Guk Son. "Electrochemical Characteristics of Silicon-Doped Tin Oxide Thin Films," Korean Journal of Materials Research. Vol. 12, No. 4, pp. 240-247, (2002). 

  3. Z. M. Jarzebski and J. P. Marton, "Physical Properties of SnO2 Materials I . Preparation and Defect Structure," Journal of the electrochemical Society, Vol. 123, No. 7, pp. 199-203, (1976). 

  4. Sung Hoon Lee, Jong Su Kim, Tae Wook Kang, Jong Ho Ryu and Sang Nam Lee, "Synthesis and Luminescence of Sr2Si5N8:Eu2+ Red Phosphor for High Color-Rendering White LED," Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 16, No. 4, pp. 11-15, (2017). 

  5. Paranjape MA, Mane AU, Raychaudhuri AK, Shalini K, Shivashankar SA, Chakravarty BR, "Metal-organic chemical vapour deposition of thin films of cobalt on different substrates: study of microstructure," Thin Solid Films, Vol. 413, No. 1-2, pp. 8-15, (2002). 

  6. V. Vasu and A. Subrahmanyam, "Electrical and optical properties of sprayed $SnO_2$ films," Thin Solid Film, Vol. 193/194, pp. 973-980, (1990). 

  7. Randhawa. H.S, Matthews. M.D, Bunshah, R.F, " $SnO_2$ films prepared by activated reactive evaporation," Thin Solid Films, Vol. 83, No. 2, pp. 267-271, (1967). 

  8. Teresa Oh, "Stability of Gas Response Characteristics of IGZO," Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 17, No. 3, pp. 17-20, (2018). 

  9. Teresa Oh, "Tunneling Phenomenon of amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Film Transistors for Flexible Display," Electronic Materials Letters, Vol. 11, No. 5, pp. 853-861, (2015). 

  10. Kenji Normura, Toshio Kamiya and Hideo Hosono, "Ambipolar Oixde Thin-Film Transistor," Adv. Mater., Vol. 23, No. 30, pp. 3431-3434, (2011). 

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