$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

[국내논문] 압전재료의 기초 물성 측정
Practical Guide to the Characterization of Piezoelectric Properties 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.34 no.5, 2021년, pp.301 - 313  

강우석 (울산과학기술원 신소재공학과 및 JULIA 연구센터) ,  이건주 (울산과학기술원 신소재공학과 및 JULIA 연구센터) ,  조욱 (울산과학기술원 신소재공학과 및 JULIA 연구센터)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

본 논문은 대학 연구실과 산업현장에서 강유전 압전 분야 연구를 갓 시작한 이들이 압전 소재의 특성에 대한 기초적, 이론적 개념에 대해서는 각종 교과서와 논문을 통해 쉽게 접할 수 있는 반면, 그 특성들이 실제로 어떻게 측정되고 평가되는 지에 대한 정보를 얻기가 힘들다는 점에 착안하여 압전 분야 입문자가 관련 측정 기술을 보다 쉽게 이해하고 접근할 수 있도록 돕는 것을 목적으로 한다. 기초 유전 물성인 임피던스에 기반한 유전상수와 유전손실 측정법을 시작으로 압전상수, 전기기계결합계수, 품질계수 및 측정 방법에 대해 논의하고, 강유전성을 대표하는 전계에 따른 분극 변화 측정법에 대해 기술하였다. 본 논문에서는 이미 표준화되어 있는 측정법들을 소개하고 있지만, 이를 숙지하고 응용한다면 보다 도전적이고 창의적인 측정법을 도출할 수 있을 것으로 기대한다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Theoretical background for the meaning of various piezoelectric properties can be easily found in a number of textbooks and academic papers. In contrast, how they are actually measured and characterized are rarely described, though this information would be the most important especially to the resea...

Keyword

표/그림 (11)

참고문헌 (18)

  1. W. S. Kang, T. G. Lee, J. H. Kang, J. H. Lee, G. Choi, S. W. Kim, S. Nahm, and W. Jo, J. Eur. Ceram. Soc., 41, 2482 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2020.12.028] 

  2. A. Kumar, J. Y. Yoon, A. Thakre, M. Peddigari, D. Y. Jeong, Y. M. Kong, and J. Ryu, J. Korean Ceram. Soc., 56, 412 (2019). [DOI: https://doi.org/10.4191/kcers.2019.56.4.10] 

  3. C. H. Hong and W. Jo, J. Am. Ceram. Soc., 101, 1949 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1111/jace.15344] 

  4. C. H. Hong, Z. Fan, X. Tan, W. S. Kang, C. W. Ahn, Y. Shin, and W. Jo, J. Eur. Ceram. Soc., 38, 5375 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2018.08.006] 

  5. S. S. Lee, C. H. Lee, T. A. Duong, H.T.K. Nguyen, H. S. Han, and J. S. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 34, 1 (2021). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2021.34.1.1] 

  6. T. M. Noh, J. S. Kim, J. S. Ryu, and H. S. Lee, J. Korean Ceram. Soc., 48, 323 (2011). [DOI: https://doi.org/10.4191/kcers.2011.48.4.323] 

  7. J. S. Lee, E. C. Shin, D. K. Shin, Y. Kim, P. A. Ahn, H. H. Seo, J. M. Jo, J. H. Kim, G. R. Kim, Y. H. Kim, J. Y. Park, C. H. Kim, J. O. Hong, and K. H. Hur, J. Korean Ceram. Soc., 49, 475 (2012). [DOI: https://doi.org/10.4191/kcers.2012.49.5.475] 

  8. J. R. Yoon, H. Moon, and H. Y. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 23, 216 (2010). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2010.23.3.216] 

  9. C. H. Hong, H. P. Kim, B. Y. Choi, H. S. Han, J. S. Son, C. W. Ahn, and W. Jo, J. Materiomics, 2, 1 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jmat.2015.12.002] 

  10. J. Fialka and P. Benes, Proc. 2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (IEEE, Graz, Austria, 2012). [DOI: https://doi.org/10.1109/i2mtc.2012.6229293] 

  11. S. Zhang, F. Li, F. Yu, X. Jiang, H. Y. Lee, J. Luo, and T. R. Shrout, J. Korean Ceram. Soc., 55, 419 (2018). [DOI: https://doi.org/10.4191/kcers.2018.55.5.12] 

  12. H. Y. Lee, Proc. ISAF-ICE-EMF-IWPM-PFM Meeting 2019EPFL (Lausanne, Switzerland, 2019). 

  13. H. P. Kim, G. J. Lee, H. Y. Jeong, J. H. Jang, G. Y. Kim, S. Y. Choi, H. Y. Lee, S. G. Lee, and W. Jo, J. Eur. Ceram. Soc., 39, 3327 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc. 2019.04.022] 

  14. F. Li, S. Zhang, Z. Xu, X. Wei, J. Luo, and T. R. Shrout, J. Appl. Phys., 108, 034106 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3466978] 

  15. B. Jaffe, W. R. Cook, JR, and H. Jaffe, Piezoelectric Ceramics (Academic Press, New York, 1971), p. 290. 

  16. H. J. Lee, S. Zhang, and T. R. Shrout, J. Appl. Phys., 107, 124107 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3437068] 

  17. H. J. Lee, S. Zhang, J. Luo, F. Li, and T. R. Shrout, Adv. Funct. Mater., 20, 3154 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1002/adfm.201000390] 

  18. C. B. Sawyer and C. H. Tower, Phys. Rev., 35, 269 (1930). [DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRev.35.269] 

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로