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NTIS 바로가기반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.22 no.1, 2023년, pp.49 - 53
이성제 (호서대학교 전자공학과) , 이상석 (호서대학교 전자공학과) , 안진호 (호서대학교 전자공학과)
In this paper, we propose an antirandom pattern-based test method considering power consumption to compensate for the problem that the fault coverage through random test decreases or the test time increases significantly when the DUT circuit structure is complex or large. In the proposed method, a g...
P. Kafka, "The Automotive Standard ISO 26262, the?innovative driver for enhanced safety assessment &?technology for motor cars", Procedia Engineering 45 2-10, 2012.
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Atalanta v. 2.0, https://github.com/hsluoyz/Atalanta
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