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A study on thermal cycling (T/C) reliability of anisotropic conductive film (ACF) flip chip assembly for thin chip-on-board (COB) packages

Microelectronics reliability, v.52 no.6, 2012년, pp.1174 - 1181  

Jang, K.W. (Department of Materials Science and Engineering, KAIST, 373-1 Guseong-dong, Yuseong-gu, Daejeon 305-701, Republic of Korea) ,  Park, J.H. ,  Lee, S.B. ,  Paik, K.W.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this work, thermal cycling (T/C) reliability of anisotropic conductive film (ACF) flip chip assemblies having various chip and substrate thicknesses for thin chip-on-board (COB) packages were investigated. In order to analyze T/C reliability, shear strains of six flip chip assemblies ...

참고문헌 (17)

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  2. Adv Electron Pack Yim 1999 1 367 1999 Flip chip assembly on organic boards using anisotropic conductive adhesives/films and nickel/gold bump 

  3. Feil M, Adler C, Hemmetzberger D, Konig M, Bock K. The challenge of ultra thin chip assembly. In: Proc 54th electron comp technol conf; 2004. p. 35-40. 

  4. Microelectron Reliab Jokinen 42 1913 2002 10.1016/S0026-2714(02)00100-2 Anisotropic conductive film flip chip joining using thin chips 

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  6. Microelectron Reliab Kwon 46 589 2006 10.1016/j.microrel.2005.06.014 Deformation mechanism and its effect on electrical conductivity of ACF flip chip package under thermal cycling condition: an experimental study 

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  15. J Electron Pack Tsai 126 115 2004 10.1115/1.1648056 A note on Suhir’s solution of thermal stresses for a die-substrate assembly 

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  17. Lee H, Neville K. Handbook of epoxy resins. New York: McGraw-Hill; 1982. p. 6-24. 

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