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Deep and vertical silicon bulk micromachining using metal assisted chemical etching

Journal of micromechanics and microengineering.: structures, devices, and systems, v.23 no.5, 2013년, pp.055015 -   

Zahedinejad, Mohammad ,  Farimani, Saeed Delaram ,  Khaje, Mahdi ,  Mehrara, Hamed ,  Erfanian, Alireza ,  Zeinali, Firooz

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, a newfound and simple silicon bulk micromachining process based on metal-assisted chemical etching (MaCE) is proposed which opens a whole new field of research in MEMS technology. This method is anisotropic and by controlling the etching parameters, deep vertical etching, relative to ...

참고문헌 (18)

  1. [1] Burghartz J N 2001 Microelectron. Reliab. 41 13–9 10.1016/S0026-2714(00)00198-0 Burghartz J N Microelectron. Reliab. 0026-2714 41 1 2001 13 19 

  2. [2] Weber K J, Blakers A W, Stocks M J, Babaei J H, Everett V A, Neuendorf A J and Verlinden P J 2004 IEEE Electron Device Lett. 25 37–9 10.1109/LED.2003.821600 Weber K J, Blakers A W, Stocks M J, Babaei J H, Everett V A, Neuendorf A J and Verlinden P J IEEE Electron Device Lett. 0741-3106 25 1 2004 37 39 

  3. [3] Spatz J P 2005 Nature Mater. 4 115–6 10.1038/nmat1315 Spatz J P Nature Mater. 1476-1122 4 2 2005 115 116 

  4. [4] Petersen K 1996 Biomedical applications of MEMS Int. Electron Devices Meeting pp 239–42 Biomedical applications of MEMS Petersen K Int. Electron Devices Meeting 1996 239 242 

  5. [5] Yazdi N, Ayazi F and Najafi K 1998 Proc. IEEE 86 1640–59 10.1109/5.704269 Yazdi N, Ayazi F and Najafi K Proc. IEEE 0018-9219 86 8 1998 1640 1659 

  6. [6] Ohji H, Izuo S, French P J and Tsutsumi K 2002 Sensors Actuators A 97 744–8 10.1016/S0924-4247(02)00015-8 Ohji H, Izuo S, French P J and Tsutsumi K Sensors Actuators A 0924-4247 97-98 2002 744 748 

  7. [7] Malekmohammad M, Soltanolkotabi M, Asadi R, Naderi M H, Erfanian A, Zahedinejad M, Bagheri S and Khaje M 2012 J. Micro/Nanolithogr. MEMS MOEMS 11 013011 10.1117/1.JMM.11.1.013011 Malekmohammad M, Soltanolkotabi M, Asadi R, Naderi M H, Erfanian A, Zahedinejad M, Bagheri S and Khaje M J. Micro/Nanolithogr. MEMS MOEMS 1932-5150 11 1 013011 2012 

  8. [8] Malekmohammad M, Soltanolkotabi M, Erfanian A, Asadi R, Bagheri S, Zahedinejad M, Khaje M and Naderi M H 2012 J. Eur. Opt. Soc. 7 12008 10.2971/jeos.2012.12008 Malekmohammad M, Soltanolkotabi M, Erfanian A, Asadi R, Bagheri S, Zahedinejad M, Khaje M and Naderi M H J. Eur. Opt. Soc. 1990-2573 7 2012 12008 

  9. [9] Kovacs G T A, Maluf N I and Petersen K E 1998 Proc. IEEE 86 1536–51 10.1109/5.704259 Kovacs G T A, Maluf N I and Petersen K E Proc. IEEE 0018-9219 86 8 1998 1536 1551 

  10. [10] Chattopadhyay S, Li X and Bohn P W 2002 J. Appl. Phys. 91 6134 10.1063/1.1465123 Chattopadhyay S, Li X and Bohn P W J. Appl. Phys. 0021-8979 91 9 2002 6134 

  11. [11] Li X and Bohn P W 2000 Appl. Phys. Lett. 77 2572 10.1063/1.1319191 Li X and Bohn P W Appl. Phys. Lett. 0003-6951 77 16 2000 2572 

  12. [12] Zahedinejad M, Khaje M, Erfanian A and Raissi F 2011 J. Micromech. Microeng. 21 065006 Zahedinejad M, Khaje M, Erfanian A and Raissi F J. Micromech. Microeng. 0960-1317 21 6 065006 2011 

  13. [13] Zhang M L, Peng K Q, Fan X, Jie J S, Zhang R Q, Lee S T and Wong N B 2008 J. Phys. Chem. C 112 4444–50 10.1021/jp077053o Zhang M L, Peng K Q, Fan X, Jie J S, Zhang R Q, Lee S T and Wong N B J. Phys. Chem. C 1932-7447 112 12 2008 4444 4450 

  14. [14] Chang S W, Chuang V P, Boles S T, Ross C A and Thompson C V 2009 Adv. Funct. Mater. 19 2495–500 10.1002/adfm.200900181 Chang S W, Chuang V P, Boles S T, Ross C A and Thompson C V Adv. Funct. Mater. 1616-301X 19 15 2009 2495 2500 

  15. [15] Balasundaram K et al 2012 Nanotechnology 23 305304 10.1088/0957-4484/23/30/305304 Balasundaram K et al Nanotechnology 0957-4484 23 30 305304 2012 

  16. [16] Dawood M K, Liew T H, Lianto P, Hong M H, Tripathy S, Thong J T L and Choi W K 2010 Nanotechnology 21 205305 10.1088/0957-4484/21/20/205305 Dawood M K, Liew T H, Lianto P, Hong M H, Tripathy S, Thong J T L and Choi W K Nanotechnology 0957-4484 21 20 205305 2010 

  17. [17] de Boor J, Geyer N, Wittemann J V, Gösele U and Schmidt V 2010 Nanotechnology 21 095302 de Boor J, Geyer N, Wittemann J V, Gösele U and Schmidt V Nanotechnology 0957-4484 21 9 095302 2010 

  18. [18] Huang J, Chiam S Y, Tan H H, Wang S and Chim W K 2010 Chem. Mater. 22 4111–6 10.1021/cm101121c Huang J, Chiam S Y, Tan H H, Wang S and Chim W K Chem. Mater. 0897-4756 22 13 2010 4111 4116 

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