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NTIS 바로가기IEEE design & test, v.34 no.3, 2017년, pp.4 - 5
Henkel, Jorg (IEEE Design&)
The focus of this issue of IEEE Design&Test (D&T) is on merging memories and is brought to us by Yiran Chen, Tei-Wei Kuo, and Barbara de Salvo. Emerging memory technologies have significant advantages in some of the typical memory characteristics but fall short in others such that their broad adop...
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