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NTIS 바로가기Journal of materials chemistry. C, Materials for optical and electronic devices, v.6 no.27, 2018년, pp.7267 - 7273
Fallica, Roberto (Paul Scherrer Institute) , Ekinci, Yasin (Paul Scherrer Institute)
The transmissivity of thin photoresist films and its variation during exposure are key parameters in photolithographic processing, but their measurement is far from straightforward at extreme ultraviolet (EUV) wavelength. In this work, we analyze thin films of chemically amplified resists, specifica...
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