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Photoacid generator-polymer interaction on the quantum yield of chemically amplified resists for extreme ultraviolet lithography

Journal of materials chemistry. C, Materials for optical and electronic devices, v.6 no.27, 2018년, pp.7267 - 7273  

Fallica, Roberto (Paul Scherrer Institute) ,  Ekinci, Yasin (Paul Scherrer Institute)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The transmissivity of thin photoresist films and its variation during exposure are key parameters in photolithographic processing, but their measurement is far from straightforward at extreme ultraviolet (EUV) wavelength. In this work, we analyze thin films of chemically amplified resists, specifica...

참고문헌 (25)

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  25. Proc. SPIE van de Kerkhof 10143 101430D 2017 

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