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NTIS 바로가기대한전기학회 1996년도 하계학술대회 논문집 C, 1996 July 22, 1996년, pp.1466 - 1468
Lee, Jong-Chan (Wonkwang University) , Lin, Yea-Hoon (Wonkwang University) , Lee, Rae-Duk (Korea Research Institute of Standards and Science) , Park, Dae-Hee (Wonkwang University)
The standards of the capacitance arc measured and analyzed by the dry nitrogen or mica film as a dielectric. In this paper, respectively the standard capacitors of 10 pF and 100 pF for the establishment of the dielectric loss tangent are made by
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