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NTIS 바로가기대한전기학회 1998년도 하계학술대회 논문집 B, 1998 July 20, 1998년, pp.660 - 662
고윤석 (남서울대학교 전자공학과) , 정우진 (남서울대학교 전자공학과) , 박태신 (남서울대학교 전자공학과) , 이상진 (남서울대학교 전자공학과)
실장 PCB에 대한 검사업무는 많은 인력과 시간비용을 요구 제품의 생산성을 저하시킴으로써 제품에 대한 경쟁력 확보에 큰 장애요인이 되고 있다. 따라서, 기업들은 검사 자동화를 추진하여 왔는데, 검사 생산성을 획기적으로 개선하기 위해서는 검사패턴을 자동 생성하고 아날로그 회로나 디지털 회로상의 전자 소자나 회로 기능을 선택적으로 검사함으로써 검사비용을 최소화할 수 있는 다기능 검사 기능이 요구된다. 따라서, 본 연구에서는 회로 보오드상의 부품 특성에 따라 최적의 검사패턴을 자동 작성하고 동시에 실행할 수 있는 지능형 검사 시스템을 개발하고자 한다.
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