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인공지능기법을 이용한 전자회로보오드의 자동검사전략에 대한 연구
A Study on the Automatic Test Strategy of the Electronic Circuit Board Using Artificial Intelligence 원문보기

전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. D / D, 시스템 및 제어부문, v.52 no.12, 2003년, pp.671 - 678  

고윤석 (남서울대학 전자정보통신공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper proposes an expert system to generate automatically the test table of test system which can highly enhance the quality and productivity of product by inspecting quickly and accurately the defect device on the electronic circuit board tested. The expert system identifies accurately the tes...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 따라서 본 연구에서는 전자회로 데이터베이스로부터 회로 연결성을 자동으로 추적하여 검사대상 소자와 그 회로패턴을 정확하게 확인한 후, 고도 전문가의 경험적 지식에 의해 아날로그 소자들의 결함을 정확하게 검사할 수 있도록 검사 지식베이스를 자동으로 생성하도록 함으로써 검사시스템 구축 비용을 최소화할 수 있는 전문가 시스템을 제안한다. 검사 지식베이스는 저항, 콘덴서, 코일, 다이오우드, Tr 등의 아날로그 소자들에 대한 미삽, 역삽, 오삽문제 등에 대한 검사전략 지식들을 포함한다.
  • 본 연구에서는 전자회로 보오드의 테스트 패턴을 자동으로 생성하는 자동 테스트 테이블 생성 전략을 제안하였다. 따라서, 제안된 전문가 시스템의 정확성을 검증하기 위해서는 주어진 모델에 대해서 자동 테스트패턴 테이블 작성 결과를 검증해야 한다.
  • 본 연구에서는 표면실장조립라인에서 대량 생산되는 실장 PCB를 검사하여 아날로그 부품의 결함을 신속, 정확하게 판별함으로써 생산제품의 고품질화와 생산성을 크게 향상시킬 수 있는 전자회로보오드 검사시스템의 검사테이블 자동 생성 전문가 시스템을 제안하였다. 전문가 시스템은 DB로부터 회로 연결성을 자동으로 추적하여 측정하고자 하는 부품과 그 회로패턴을 정확하게 확인한 다음, 고도 전문가의 경험적 지식에 의해 저항, 콘덴서, 코일, 다이오우드 그리고 Tr 등과 같은 아날로그 부품들에 대해서 미삽, 역삽, 오삽문제 등을 정확하게 검사할 수 있도록 검사패턴을 작성, 자동적으로 검사지식 테이블을 구축하도록 하였다.
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참고문헌 (13)

  1. Jon Turino, 'Functional Testing's Place In Dlectronics Manufacturing', Evaluation Engineering, pp 58-61, September 1984 

  2. Reynold, 'In-Circuit McTesters ? or the Future of In-Circuit Test', Evaluation Engineering, pp 8-15, February 1987 

  3. David T. Crook, 'Analog In-Circuit Component Measurements: Problems and Solutions', Hewlett-Packard Journal, pp 34-42 march 1979 

  4. Steve J Baker, 'Analog-Component Faults Yield to In-Circuit Testing', GenRad journal pp 15-20 

  5. Peter Hansen, 'Ensuring ASIC Testability at the Board Level Tools and Strategies', ATE & Instrumentation Conference, pp 33-43 1987 

  6. John J. Arena, 'Calcuating the Effective Pattern Rate for High-Speed Board Test Applications', IEEE Trans. Industrial Electroics, Vol. 36, No.2, pp 164-174, May 1989 

  7. Ed O. Schiotzhauer, 'User-Oriented Software for an Automatic Circuit-Board Tester', Hewlett-Packard Journal, pp 22-27, March 1979 

  8. S. A. Cohen, 'Maintaining timing accuracy in high pin-count VLSI module test systems,' in Proc. 1987 Int. Test Conf., ppm 779-789 

  9. 고윤석, 정경희, 인쇄회로기판의 자동복합 검사/진단 시스템 개발, 과학기술처 기술지도보고서, 1994 

  10. 고윤석외 3인, '지능형 회로보오드 검사 시스템 설계', 대한전기학회 하계학술대회논문집, pp.660-662, 1998 

  11. 고윤석, 최병근, '부품이 실장된 아날로그 회로보오드의 검사전략에 대한 연구', 대한전기학회 하계학술대회 논문집, pp.2196-2198, 2001 

  12. 고윤석, 한길희외 '전기회로 보오드의 RLC 병렬회로 검사를 위한 위상검출회로 설계',대한전기학회 전기기기 및 에너지변환시스템학회 춘계학술대회 발표논문집, 2002 2002 

  13. 고윤석, '생산라인에서 SSA 기법에 근거한 디지털 회로 보오드 검사기술', 대한전기학회 하계학술대회 발표논문집, pp. 2193-2195, 2001 

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