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NTIS 바로가기한국정밀공학회 2000년도 춘계학술대회 논문집, 2000 May 01, 2000년, pp.854 - 857
서헌덕 (부산대 정밀기계공학과 대학원) , 정해도 (부산대 기계공학) , 김형재 (부산대 정밀기계공학과 대학) , 김호윤 (부산대 정밀기계공학과 대학) , 이재석 (한국공작기) , 황징연 (한국공작기) , 안대균 (한국공작기계)
Chemical Mechanical Polishing(CMP) has been accepted as one of the essential processes for VLSI fabrication. However, as the polishing process continues, pad pores get to be glazed by polishing residues, which hinder the supply of new slurry. This defect makes removal rate decrease with a number of ...
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