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InGaN/GaN multiple quantum well light-emitting diodes with highly transparent Pt thin film contact on p-GaN 원문보기

한국진공학회 2000년도 제18회 학술발표회 논문개요집, 2000 Feb. 01, 2000년, pp.116 - 116  

허철 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터) ,  김현수 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터) ,  김상우 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터) ,  이지면 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터) ,  김동준 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터) ,  김현민 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터) ,  박성주 (광주과학기술원 신소재공학과 및 광전재료연구센터)

초록
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질화물 반도체는 LED, LD, Transistor, 그리고 Photodetector 등 광소자 및 전자소자를 실현할 수 있는 소재로써 최근에 각광 받고 있으며, 또한 국·내외적으로 연구가 활발히 진행되고 잇다. 질화물 발광 다이오드 제작에는 소자의 효율과 수명시간의 향상을 위하여 질화물 반도체와 금속과의 접합시 고 품질의 오믹 접합이 필수적이다. 특히 p-형 GaN의 경우에는 높은 정공 농도를 갖는 p-형 GaN를 얻기가 어렵고 GaN의 일함수에 비하여 높은 일함수를 갖는 금속이 없기 때문에 매우 낮은 접합 저항을 가지며 안정성이 매우 우수한 금 접합을 얻기가 어렵다고 알려져 있다. 또한, GaN 계열의 발광 다이오드는 일반적으로 표면 발광 다이오드 형태로 제작되기 때문에 p-형 GaN 층의 오믹 접촉으로 사용되는 금속의 전기적 특성뿐만 아니라 발광 다이오드의 활성층에서 발광되어 나오는 빛에 대한 투과도 또한 우수하여야 발광 다이오드의 효율이 우수해진다. 본 연구에서는 p-형 GaN층의 접합 금속으로 Pt(80nm)과 Ni(5nm)/Au(7nm)를 사용하여 InGaN/GaN 다중양자우물 구조의 발광 다이오드를 제작하여 전기적 특성 및 발광효율을 측정하였다. 그리고, Pt(80nm)과 p-형 GaN와의 접합시 온도 변화에 따른 전기적 특성을 TLM 방법으로 조사하고, 가시광선 영역에서의 빛에 대한 투과도를 UV/VIS spectrometer, X-ray reflectivity, 그리고 Atomic Force Microscopy 등을 이용하여 분석하였다.

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