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Double gate MOSFET의 C-V 특성
Characteristics of C-V for Double gate MOSFET 원문보기

한국해양정보통신학회 2003년도 추계종합학술대회, 2003 Oct. 01, 2003년, pp.777 - 779  

나영일 (군산대학교 전자정보공학부) ,  김근호 (논산 백제병원 방사선과) ,  고석웅 (군산대학교 전자정보공학부) ,  정학기 (군산대학교 전자정보공학부) ,  이재형 (군산대학교 전자정보공학부)

초록
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본 논문에서는 main gate와 side gate를 갖는 double gate MOSFET의 C-V 특성을 조사하였다. Main gate 전압을 -5V에서 +5V까지 변화시킴으로써 main gate 길이가 50nm이고, side gate 길이가 70nm인 MOSFET의 C-V 특성을 조사하였다. 또한, Main gate 길이가 50nm인 double gate MOSFET의 side gate의 길이를 40nm에서 90nm로 변화시키면서 C-V 곡선을 비교ㆍ분석하였다. Side gate 길이가 줄어들수록 전달컨덕턴스는 증가하고, 커패시턴스는 감소하는 경향을 나타내었다. 게이트 전압이 1.8V일 때, side gate의 영향으로 C-V곡선에 굴곡이 나타났으며, 소자의 특성 분석을 위해 ISE-TCAD를 사용하여 시뮬레이션 하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we have investigated Characteristics of C-V for Double gate MOSFET with main gate and side gate. DG MOSFET has the main gate length of 50nm and the side gate length of 70nm. We have investigated characteristics of C-V and main gate voltage is changed from -5V to +5V. Also we h...

AI 본문요약
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문제 정의

  • 지난 20년 동안에 CMOS기술의 괄목할만한 발달로 인해, 스켈링 기술과 소자의 크기는 나노 크기 영역에서의 기본적인 물리적 한계에 다다르고 있다 [2], MOSFET의 게이트 길이가 lOOnm 이하로 줄어들게 되면, 소자의 디자인에 있어 단채널효과(SCE)로 인한 문제들을 고려해야만 한다. 그러므로 MOSFET를 스켈링할 때, 매우 얕은 소스와 드레인 접합으로 인한 SCE를 억압시키는 것이 가장 중요한 문제들 중 한가지이다⑶, 본 논문에서는 이러한 SCE문제들을 해결하기 위하여, main gate(MG)와 side gate(9G)를 갖는 double-gate(DG) MOSFET를 조사하였다.
  • 본 논문에서는 main 게이트와 side 게 이트를 갖는 DG MOSFET에 대하여 조사하였다. side 게이트는 단체널효과를 억압하기 위하여 사용되었다.
  • 본 논문에서는 각 side gat으 길이와 盛de gate 전압에 대한 최적의 값을 얻기 위해 문턱 전압을 서로 비교하였다. Main gate 길이는 100脚에서 40皿까지 스케일링하였고, side gate 길이는 90nm에서 40 nm까지 스케일링하면서 각 gate 길이에 따른 최적의 side gate 길이를 조사하였다.
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