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NTIS 바로가기한국반도체및디스플레이장비학회 2003년도 추계학술대회 발표 논문집, 2003 Dec. 01, 2003년, pp.18 - 22
경재선 (한양대학교 물리학과) , 방경윤 (한양대학교 물리학과) , 최은호 (한양대학교 물리학과) , 손영수 (나노뷰(주)) , 안일신 (한양대학교 물리학과) , 오혜근 (한양대학교 물리학과)
일반사용자들은 ellipsometer를 사용이 어려운 장비로 인식하고 있다. 본 연구는 초보자들이 손쉽게 사용할 수 있는 ellipsometer를 제작하는데 목적이 있다. 시편을 측정하기 전에 반드시 해야 할 과정인 alignment와 calibration을 하지 않고 측정할 수 있도록 제작하였다. 기본 구조는 rotating compensator spectroscopic ellipsometry를 이용하였으며 , 입사각을 70도로 고정시키고 기존의 sample holder 구조를 바꾸어 어떠한 시편을 놓아도 입사면이 변하지 알게 하여 calibration 이 요구되지 않는 ellipsometer를 개발하였다. 장비의 성능과 정밀도를 검사하기 위하여 여러 가지 표준시료를 측정하여 일반 RCSE와 측정결과를 비교하였다. 또한 고정된 입사면의 calibration값의 신뢰도를 검사하기 위하여 반복적으로 측정할 때마다 시편을 재배치하여 실험하였다.
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