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문제 정의
- 본 절에서는 데이터 왜곡의 발생을 검출하고 정정할 수있는 기법 EDAC(Error Detection And Correction) 일부핵심 기술을 소개하고자 한다.
- 많이 사용되고 있다. 직접도가 높은 FPGA 소자 둥은 방사선에 대한 영향이 메모리 소자나 IC 소자들과는달리 높게 나타나기 때문에 이를 이용하여 SRAM 메모리에 발생하는 에러를 검출하고 정정할 수 있는 디지털회로 설계 기법을 본 논문에서 기술하였고 시뮬레이션을통하여 검증하였다. 제안된 방법은 데이터 1 바이트를 0, 2, 4, 6번 비트와 1, 3, 5, 7번 비트로 구성된 두 개의 니블로 나누어 각 니블에 대하여 독립적으로 EDAC를 수행한 후 결과를 조합하여 다시 1 바이트로 구성하는 방식을 사용하였다.
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