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위상잠금 광-적외선 열화상 기술을 이용한 Aluminum 6061-T6 시험편의 결함검출
Defect detection of Aluminum 6061-T6 using Lock-in photo-infrared thermography technique 원문보기

한국정밀공학회 2008년도 춘계학술대회 논문집, 2008 June 11, 2008년, pp.709 - 710  

김민근 (조선대학교 첨단부품소재공학과) ,  김경석 (조선대학교 기계설계공학과) ,  양승필 (동아인재대학교 안경공학과) ,  김성식 (목포대학교 자동차공학과) ,  김현민 (조선대학교 첨단부품소재공학과) ,  송재근 (조선대학교 LARC)

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문제 정의

  • 이 위상잠금 기법은 낮은 샘플링에서도 표면의 미세한 변화를 감지할 수 있다. 따라서 본 논문에서는 열확산계수가 높은 Aluminum 6061-T6 결함시험 편을 열확산계수가 상대적으로 낮은 STS304 시험편과의 비교를 통하여 Aluminum 6061-T6 의 결함검출 분해능을 측정하고자 하며 이는 검사대상체의 수명평가예측에 중요한 정보를 제공할 것이다. [1]
  • 본 연구에서는 위상잠금 광적외선 열화상을 이용한 Aluminum 6061-T6 시험편을 비교적 결함검출이 용이한 STS 304 시험편과의 비교를 통하여 결함검출 분해능을 평가하였다. Aluminum 6061-T6 시험편의 최적 주파수 대역은 100 mHz 로 이는 침투깊이와 3축으로의 열전도에 대한 영향인자를 고려하여 실험적으로 얻은 값이며 최적주파수이하의 주파수 대역은 열원 침투깊이는 증가하나 검사시간의 증가로 비파괴 검사측면에서 효율성이 떨어진다고 볼 수 있다.
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