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폴리머 표면측정을 위한 AFM 팁의 접촉-진동 해석
Vibro-Contact Analysis of AFM Tip on Polymer Surface 원문보기

한국신재생에너지학회 2005년도 춘계학술대회, 2005 June 01, 2005년, pp.538 - 541  

홍상혁 (서울대학교 대학원 기계항공공학부) ,  이수일 (서울시립대학교 기계정보공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In tapping mode atomic force microscopy(TM-AFM). the vibro-contact response of a resonating tip is used to measure the nanoscale topology and other properties of a sample surface. However, the nonlinear tip-surface interact ions can affect the tip response and destabilize the tapping mode control. E...

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문제 정의

  • 따라서 본 연구에서는 소프트한 시료를 측정할 때 탭핑 모드 제어의 불안정성에 대해 AFM 마이크로캔틸레버의 실험과 이론적인 해석을 수행하였다. 실험에서는 실리콘(Si)팁을 사용하여 소프트한 폴리머 시료인 PDMS(polydimethysiloxane) 표면을 탭핑 모드로 측정할 때 팁의 진폭과 위상을 측정하였다.

가설 설정

  • AFM 마이크로캔 틸레버 팁의 비선형 웅답을 해석하기 위해 탭핑 마이크로캔 틸레버를 Bernoulli -Euler 보(beam)로 모델링하였다. AFM 마이크로캔틸레버 팁 끝을 구(sphere)로, 시료 표면을 평면으로 가정하고 팁-시료 간의 상호력을 구와 평면 사이의 상호작용력으로 모델링하였다. 팁과 시룐가 멀리 떨어져 있을 경우에는 반데르발스 힘에 의한 인력(attractive force)이 작용하는 구간으로 설정하고, 팁이 시료와 접촉이 일어나면 DMT 접촉모델»과 JKR 접촉모델s을 적용하여 각각 다른 처력(repulsive force) 구간별 모델을 설정하였다.
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