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제안 방법
- 1.경수로형 원자료의 증가발생기 내부에 방사화된 침전물 분석에 대한 시험절차 및 기술을 개발하였다.
- 경수로형 원자로의 증기 발생기 내부에 방사화된 침적물을 smear paper로 시료를 채취하여 핵종 분석 및 화학조성을 분석하였다. 상용발전소의 증기 발생기 외부에서 발견된 고준위 방사성 물질의 화학 조성 분석은 극미세 성분분석기 (EPMA)를 이용하였다.
- 방사화된 침적물은 smear-paper로 문질러 침적물의 시료를 그림 1과 같이 채취하였다. 고준위 방사선을 띤 시료의 시편 작업은 그림 2와 같이 조사재시험시설 (KAERI. IMEF)에 설치한 글로브 박스(glove box)에서 smear paper에 접착된 시료의 일정부분을 EPMA 기기의 시편 홀더에 silver paint로 두껍게 입힌 후 그 위에 접착하였다. 시료를 접착한 후, carbon coating을 100A로 시도하였으나 전자빔의 산란현상인 charging0] 심하여 500A으로 coating 하였다.
- 경수로형 원자로의 증기 발생기 내부에 방사화된 침적물을 smear paper로 시료를 채취하여 핵종 분석 및 화학조성을 분석하였다. 상용발전소의 증기 발생기 외부에서 발견된 고준위 방사성 물질의 화학 조성 분석은 극미세 성분분석기 (EPMA)를 이용하였다. 본 시험에 사용한 EPMA(Electron Probe Micro Analyzer, SX-50R, CAMECA, Paris, France)는 고방사능을 띤 조사 핵연료 및 재료 시험을 수행할 수 있도록 기기의 시편 stage 주위를 납과 텅스텐으로 차폐하여 시편의 방사능 세기가 3.
- IMEF)에 설치한 글로브 박스(glove box)에서 smear paper에 접착된 시료의 일정부분을 EPMA 기기의 시편 홀더에 silver paint로 두껍게 입힌 후 그 위에 접착하였다. 시료를 접착한 후, carbon coating을 100A로 시도하였으나 전자빔의 산란현상인 charging0] 심하여 500A으로 coating 하였다. 준비한 시편을 그림 3과 같이 납으로 만든 운반용기(cask)로 이송하여 시험기기에 장착했다.
- 또한 시료가 허공에 떠 있는 형상이므로 입사전자빔의 전도도가 시편 흘더에 이르는 시간 등의 복합적인 문제로 시료를 코팅하는데 어려움이 많았다. 시험 조건에 적합한 부위(약 3~ 10 μm 크기)를 찾기 위해 일정한 방향으로 Image Tracing을 실시하여 그림 5와 같이 약 10 μm 크기의 시험부위를 찾아 산소 퍼텐셜에 대한 분포를 확인했다. 그림 의 3개 시료 중 왼쪽 시료는 Fe를 주성분으로 하는 시료이고, 가운데와 오른쪽은 Si, Ca, 0등의 물질로서 금속 시료에 대한 시험시편으로는 부적당하여 정량시험은 하지 않았다.
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