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NTIS 바로가기대한전기학회 2007년도 심포지엄 논문집 정보 및 제어부문, 2007 Oct. 26, 2007년, pp.225 - 226
허건행 (성균관대학교, 정보통신공학부) , 성욱진 (성균관대학교, 정보통신공학부) , 이우람 (성균관대학교, 정보통신공학부) , 유관호 (성균관대학교, 정보통신공학부)
In the semiconductor manufacturing industry, the heterodyne laser interferometer plays as an ultra-precise measurement system. However, the heterodyne laser interferometer has some unwanted environmental error which is caused from refraction in the air. This is an obstacle to improve the measurement...
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