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문제 정의
- 본 논문은 4.8Ghz까지 동작하는 Memory Module Te st를 위한 우수한 high frequency 특성을 갖는 test socket을 개발하고 검증을 하였다. socket 제작에 앞서 high frequency 특성 개선여부를 확인하기 위하여 등가회로를 만들어 주파수 및 시간 영역에서 특성확인을 하였다.
- 본 논문은 Memory Module Test를 구성하고 있는 H/W 중 Socket의 전기적인 특성을 향상시켜 5Ghz 대역 이상에서 사용 가능한 socket 개발을 통해 overkill 감소를 통한 Test 수율향상 및 Retest 감소를 통한 생산성 최적화를 시키는 데 중점을 두었다.
- Memory Module 제품은 갈수록 고속화, 고집적화, 대용량화됨과 동시에 Chipset과 Module간에 새로운 Interface 방식을 사용해 가고 있다. 본 연구에서는 고속 동작하는 Memory Module Test의 Signal integri ty 향상에 초점을 두었다.
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