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NTIS 바로가기한국전기전자재료학회 1992년도 추계학술대회 논문집, 1992 Nov. 07, 1992년, pp.11 - 13
윤중락 (명지대학교 공과대학 전기공학과) , 권정열 (명지대학교 공과대학 전기공학과) , 서강원 (명지대학교 공과대학 전기공학과) , 박인환 (현대전자(주)) , 이헌용 (명지대학교 공과대학 전기공학과)
The dielectric reliability of the Thin
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