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NTIS 바로가기Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016 IEEE International, 2016 Apr, 2016년, pp.PR-3-1 - PR-3-4
Nakamura, Yoshio (Chuo University, Tokyo, Japan) , Iwasaki, Tomoko (Chuo University, Tokyo, Japan) , Takeuchi, Ken (Chuo University, Tokyo, Japan)
A screening method to proactively reduce data retention, as well as program disturb errors. Repeated program disturb (P.D.) measurement indicates that 25% of P.D. errors are concentrated in 3.5% of the memory cells, called PD-weak cells. PD-weak cells have 2.4× worse data retention (D.R.) tha...
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