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게이트 산화막 두께에 따른 이중게이트 MOSFET의 문턱전압이하 전류 변화 분석
Analysis of Subthreshold Current Deviation for Gate Oxide Thickness of Double Gate MOSFET 원문보기

한국정보통신학회 2013년도 춘계학술대회, 2013 May 22, 2013년, pp.762 - 765  

정학기 (군산대학교 전자공학과) ,  정동수 (군산대학교 전자공학과) ,  이종인 (군산대학교 전자공학과) ,  권오신 (군산대학교 전자공학과)

초록
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본 연구에서는 이중게이트 MOSFET의 게이트 산화막 두께의 변화에 따른 문턱전압이하 전류의 변화를 분석하였다. 이를 위하여 이중게이트 MOSFET의 채널 내 전위분포를 구하기 위하여 포아송방정식을 이용하였으며 이때 전하분포함수에 대하여 가우시안 함수를 사용하였다. 전위분포는 경계조건을 이용하여 채널크기에 따른 해석학적인 함수로 구하였다. 가우시안 함수의 변수인 이온주입범위 및 분포편차 그리고 게이트 산화막 두께 등에 대하여 문턱전압이하 전류 특성의 변화를 관찰하였다. 본 연구의 전위모델에 대한 타당성은 이미 기존에 발표된 논문에서 입증하였으며 본 연구에서는 이 모델을 이용하여 문턱전압이하 전류 특성을 분석하였다. 분석결과, 문턱전압이하 전류는 게이트 산화막 두께 및 가우시안 분포함수의 변수 등에 크게 영향을 받는 것을 관찰할 수 있었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper analyzed the change of subthreshold current for gate oxide thickness of double gate(DG) MOSFET. Poisson's equation had been used to analyze the potential distribution in channel, and Gaussian function had been used as carrier distribution. The potential distribution was obtained as the an...

AI 본문요약
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문제 정의

  • 그러나 공정상의 어려움으로 이중게이트 MOSFET가 더욱 활발히 연구되고 있는 상황이다. 본 연구에서는 게이트 산화막 두께 변화에 따른 이중게이트 MOSFET의 문턱전압이하 전류를 분석하였다. 문턱전압 전류모델은 Tiwari의 포아송방정식에 대한 해석학적 전위모델을 이용하였다[2].
  • 그러므로 상단전류 # 와 하단전류 # 는 총 차단전류에서 차지하는 비율이 변화하게 된다. 본 연구에서는 이와 같이 상하단 전류의 합으로 계산되는 총 차단전류를 게이트 산화막 두께에 대하여 고찰할 것이다.
  • 본 연구에서는 이중게이트 MOSFET의 게이트 산화막 두께의 변화에 따른 문턱전압이하 전류의 변화를 분석하였다. 이중게이트 MOSFET의 채널 내 전위분포를 구하기 위하여 포아송방정식을 이용하였으며 이때 전하분포함수에 대하여 가우시안 함수를 사용하였다.

가설 설정

  • 는 각각 이온주입범위 및 분포편차를 나타낸다. n(x)는 채널 내 두께방향 즉, 깊이방향으로의 불순물원자 분포함수로서 y와 z방향으로는 일정하게 분포되며 단지 x방향으로만 변화한다고 가정하였다.식 (1) 과 식 (2)를 Tiwari의 경계조건 등을 적용하여 풀면 다음과 같은 표면전위분포를 구할 수 있다.
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