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문제 정의
- 본 논문에서는 시험용 전원장치를 제작하고 그 스위칭 전원장치에 모니터링 회로를 추가하여 주요 부분의 전기적 상태를 일정시간 저장하게 하고 고장 즉시 데이터를 복구하여 고장원인을 추정할 수 있는 기술적 근거를 마련한다. 또한 고장 원인 분석을 위한 분석방법을 제시하고 다양한 전원장치의 고장실험을 수행하여 그 결과를 보고하였다.
- 본 논문에서는 스위칭 전원장치에 장착할 수 있는 상태 모니터링과 데이터 저장 기능을 갖춘 회로모듈을 제작하고 적용하여 고장 후에 원인을 밝힐 수 있도록 데이터를 확보하는 것이 목적이다. 측정된 데이터는 사후에 원인을 밝힐 수 있도록 저장되며 측정모듈이 전원장치의 성능에 부담되지 않도록 저전력 소모 및 최소한의 기능만 부가하도록 하였다.
- 본 논문에서는 스위칭 전원장치에 장착할 수 있는 상태모니터링과 데이터 저장 기능을 갖춘 회로모듈을 제작하고 적용하여 고장 후에 원인을 밝힐 수 있도록 데이터를 확보하여 고장분석에 활용할 수 있도록 하였다. 측정모듈로부터 얻어진 데이터는 SD카드에 약 3분 주기로 저장되고 일정기간이 경과된 파일은 순서대로 삭제되도록 하였다.
- 최근 스위칭 전원장치는 장시간 동작을 기대하며 설계되어졌지만 주위환경 또는 예기치 않은 상황에서 다양한 원인과 함께 기능 수행이 불가능할 때가 있으며, 그 경우 전원장치 고장의 원인분석이 불가능하거나 재현하기 어려운 경우가 발생한다. 본 논문에서는 시험용 전원장치를 제작하고 그 스위칭 전원장치에 모니터링 회로를 추가하여 주요 부분의 전기적 상태를 일정시간 저장하게 하고 고장 즉시 데이터를 복구하여 고장원인을 추정할 수 있는 기술적 근거를 마련한다. 또한 고장 원인 분석을 위한 분석방법을 제시하고 다양한 전원장치의 고장실험을 수행하여 그 결과를 보고하였다.
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