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NTIS 바로가기국가/구분 | 일본특허청(JP) 공개특허 공개 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | JP-0153248 (2005-05-26) |
공개번호 | JP-0351890 (2005-12-22) |
우선권정보 | US-0856381 (2004-05-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an eddy current probe for nondestructive test of electrically conductive materials.SOLUTION: One drive coil (16) is constituted, in such a way as to generate an inspection field for EC channels in the vicinity of detecting coils. An omnidirectional EC inspection syst
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