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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-1994-0040522 (1994-12-31) |
공개번호 | 10-1996-0024514 (1996-07-20) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1019940040522 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (1995-04-29) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
[구성]투명전극 패턴이 형성되어 있는 상.하측 액정기판이 액정을 밀봉하는 실패턴으로 접착되어있는 LCD판넬의 불량 검사방법에 있어 서 상기 상.하측 액정기판들중 패드가 연장되어 있지 않은 양변 의 실패턴 내측을 절단하는 공정과, 상기 패드들중 불량이 발생 된 최소의 패드에 전기 신호를 인가한 상태에서 상기 상.하측액 정기판을 슬라이딩시키며, 검사하는 공정을 구비하는 액정표시장치의 불량 검사방법.
투명전극 패턴이 형성되어 있는 상·하측 액정기판이 액정을 밀봉하는 실패턴으로 접착되어 있는 LCD 판넬의 불량 검사 방법에 있어서, 상기 상·하측 액정기판들중 패드가 연장되어 있지 않은 양변의 실패턴 내측을 절단하는 공정과, 상기 패드들중 불량이 발생된 화소의 패드에 전기 신호를 인가한 상태에서 상기 상·하측 액정기판을 슬라이딩시키며, 검사하는 공정을 구비하는 액정표시장치의 불량 검사 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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