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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-1997-0012202 (1997-04-02) |
공개번호 | 10-1998-0075842 (1998-11-16) |
등록번호 | 10-0239318-0000 (1999-10-20) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1019970012202 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (1997-04-02) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 p-크실렌(p-xylene)을 산화 반응시켜 테레프탈산(telephthalic acid, 이하 TPA라 함)을 제조하는 공정 중에 발생하는 유기불순물을 효과적으로 분석하는 방법에 관한 것이다.본 발명의 목적은 GC 분석하는 것에 의하여 여러 가지 유기불순물들을 동시에 효과적으로 분석함과 아울러 유기불순물 분석을 위한 전처리 시간을 단축하고, 이동상의 조건이나 컬럼의 상태에 따른 분석결과의 재현성을 확보하는 것이다.본 발명에 따르면, p-크실렌을 산화 반응시켜 TPA을 제조하는 공정 중 발생하는 TPA에 포함된 유기
p-크실렌을 산화반응시켜 TPA을 제조하는 공정 중에서 발생하는 유기불순물을 내부표준법을 이용하여 분석하는 방법에 있어서,상기 TPA에 포함된 유기불순물들이 내부표준용액인 실리레이션 시약과 내부 표준물인 디페닐 에테르와 테레프탈산의 용매인 피리딘으로 이루어진 내부표준용액 혼합물에 투입되어 트리메틸실리레이션되는 전처리 단계와,상기 내부표준용액 혼합물에 의한 전처리 단계를 거친 유기불순물들이 가스 크로마토그래피 분석되는 단계로 구성됨을 특징으로 하는 테레프탈산의 제조공정중의 유기불순물 분석방법.
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