초록 ▼

본 발명은 상 초점 평면(Fi)내에 기본영역(101)의 푸리에 변환(102)을 형성하는 측정 렌즈(2), 검출기(4i, j)에 의해 형성되는 센서(4)상에 기본 영역의 상을 형성하는 트랜스퍼 렌즈(3), 기본 영역(101)의 개구를 한정하는 조리개(5) 및 처리회로(6)를 포함하는, 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치를 제공한다. 푸리에 변환(102)을 발생시키는 측정 렌즈(2)는 시야 렌즈와 연관이 있고, 두개의 광학수단(2, 10)과, 조리개(5)에 의해 한정되는 직경(d)로 이루어진 원형 개구와의 조합으로 인해, 입사각

본 발명은 상 초점 평면(Fi)내에 기본영역(101)의 푸리에 변환(102)을 형성하는 측정 렌즈(2), 검출기(4i, j)에 의해 형성되는 센서(4)상에 기본 영역의 상을 형성하는 트랜스퍼 렌즈(3), 기본 영역(101)의 개구를 한정하는 조리개(5) 및 처리회로(6)를 포함하는, 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치를 제공한다. 푸리에 변환(102)을 발생시키는 측정 렌즈(2)는 시야 렌즈와 연관이 있고, 두개의 광학수단(2, 10)과, 조리개(5)에 의해 한정되는 직경(d)로 이루어진 원형 개구와의 조합으로 인해, 입사각 θ와 방위각 φ를 갖는 어떤 임의의 광성에 대해서, 분석 물체(1)상에 타원 형태의 측정 영역 선택이 가능하다.

대표청구항 ▼

물체(1), 특히 액정 스크린의 기본 영역(101)의 특성을 그 기본 영역(101)의 관측 방향에서 결정하기 위해, 상기 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치에 있어서, 상기 기본 영역(101)의 푸리에 변환(각도 세기 분포)(102)을 상기 기본 영역의 상 초점 평면(Fi)에 발생시키기 위한 측정 렌즈(2)와; 주어진 각도 좌표에 대해 상기 기본 영역(101)의 빛의 세기에 대응하는 전기적 신호(Si, j, φ)를 각각 제공하는 일련의 검출기(4i, j)로 구성되는 센서(4)상에 상기 각도 세기 분포의 상을 형성하기 위한 트

물체(1), 특히 액정 스크린의 기본 영역(101)의 특성을 그 기본 영역(101)의 관측 방향에서 결정하기 위해, 상기 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치에 있어서, 상기 기본 영역(101)의 푸리에 변환(각도 세기 분포)(102)을 상기 기본 영역의 상 초점 평면(Fi)에 발생시키기 위한 측정 렌즈(2)와; 주어진 각도 좌표에 대해 상기 기본 영역(101)의 빛의 세기에 대응하는 전기적 신호(Si, j, φ)를 각각 제공하는 일련의 검출기(4i, j)로 구성되는 센서(4)상에 상기 각도 세기 분포의 상을 형성하기 위한 트랜스퍼 렌즈(3)와; 상기 기본 영역(101)의 개구를 한정하기 위해 상기 광선의 경로상에 위치하는 조리개(5)와; 상기 센서(4)의 각 검출 셀(4i, j)로부터 상기 전기적 신호를 수신하기 위한 처리 회로를 구비하고, 상기 측정 렌즈(2)는 시야 렌즈(10)와 연관이 있고, 상기 두개의 광학렌즈(2, 10)와, 상기 조리개(5)에 의해 한정되는 직경(d)로 이루어진 원형 개구와의 조합으로 인해, 입사각 θ와 방위각 φ를 갖는 어떤 임의의 광선에 대해서, 상기 분석 물체(1)상에서 타원 형태의 측정 영역 선택이 가능하고, 상기 타원 영역은 단축(D) 및 장축(D/cosθ)으로 구성되어, 1/cosθ, 정량(D) 및 (d)가 상기 측정 렌즈(2) 및 시야 렌즈(10)에 의해 형성되는 광학계의 배율과 관련이 있음으로 인해 상기 단축과 장축의 곱이 변하고; 상기 장축은 상기 광학계의 축 및, 상기 타원 영역의 중심에 의해 방사되는 각도θ를 이루는 광선을 통과하는 평면내에 위치하는 것을 특징으로 하는 장치.