최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
---|---|
국제특허분류(IPC9판) |
|
출원번호 | 10-2001-0002524 (2001-01-17) |
공개번호 | 10-2002-0061653 (2002-07-25) |
등록번호 | 10-0402475-0000 (2003-10-08) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020010002524 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
심사청구여부 | 있음 (2001-01-17) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명에 따른 수온 측정 방법은 수온 측정이 필요한 장치의 외벽에서 물에 접촉하지 않고 외벽을 통하여 간접적으로 온도를 측정하는 온도 측정 단계와, 상기 온도 측정 단계에서 측정된 간접 측정값의 오차를 보정하는 보정 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.이와 같은 단계를 가지는 본 발명에 따른 수온 측정 방법은 온도 측정 센서를 물에 직접 노출시키지 않고 간접적으로 측정하고, 또한 간접 측정에 의한 오차를 줄이는 보정을 함으로써, 실제 수온에 근사한 측정값을 유지하면서도 기존의 방수를 위한 실링 작업이 필요 없어 생산 단가를 절감할
수온 측정이 필요한 장치의 외벽에서 물에 접촉하지 않고 외벽을 통하여 간접적으로 온도를 측정하는 온도 측정 단계와;상기 온도 측정 단계에서 측정된 간접 측정값의 오차를 보정하는 보정 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 수온 측정 방법.제 1 항에 있어서,상기 보정 단계에서 오차의 보정은 아래의 수학식에 의하여 결정되는 수온 측정 방법.여기에서, T0은 초기온도, Te는 최종온도, tc는 실험값으로부터 정해지는 시정수, Tm(t)는 측정 온도, t는 시간이고, α는 2차 보상 계수이다.제 1 항에 있어서,상기 보정 단계는 측정값의 오
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.