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연합인증

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수온 측정 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • G01K-001/00
출원번호 10-2001-0002524 (2001-01-17)
공개번호 10-2002-0061653 (2002-07-25)
등록번호 10-0402475-0000 (2003-10-08)
DOI http://doi.org/10.8080/1020010002524
발명자 / 주소
  • 최병걸 / 서울특별시강북구수유*동***번지벽산아파트**동****호
  • 황진상 / 경기도부천시원미구역곡동**-*건영아트빌라***호
출원인 / 주소
  • 엘지전자 주식회사 / 서울특별시 영등포구 여의도동 **번지
대리인 / 주소
  • 허용록 (HAW, Yong Noke)
  • 서울 강남구 역삼동***-** 현죽빌딩 *층(선영특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (2001-01-17)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명에 따른 수온 측정 방법은 수온 측정이 필요한 장치의 외벽에서 물에 접촉하지 않고 외벽을 통하여 간접적으로 온도를 측정하는 온도 측정 단계와, 상기 온도 측정 단계에서 측정된 간접 측정값의 오차를 보정하는 보정 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.이와 같은 단계를 가지는 본 발명에 따른 수온 측정 방법은 온도 측정 센서를 물에 직접 노출시키지 않고 간접적으로 측정하고, 또한 간접 측정에 의한 오차를 줄이는 보정을 함으로써, 실제 수온에 근사한 측정값을 유지하면서도 기존의 방수를 위한 실링 작업이 필요 없어 생산 단가를 절감할

대표청구항

수온 측정이 필요한 장치의 외벽에서 물에 접촉하지 않고 외벽을 통하여 간접적으로 온도를 측정하는 온도 측정 단계와;상기 온도 측정 단계에서 측정된 간접 측정값의 오차를 보정하는 보정 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 수온 측정 방법.제 1 항에 있어서,상기 보정 단계에서 오차의 보정은 아래의 수학식에 의하여 결정되는 수온 측정 방법.여기에서, T0은 초기온도, Te는 최종온도, tc는 실험값으로부터 정해지는 시정수, Tm(t)는 측정 온도, t는 시간이고, α는 2차 보상 계수이다.제 1 항에 있어서,상기 보정 단계는 측정값의 오

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