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| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
|---|---|
| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2001-0064435 (2001-10-18) |
| 공개번호 | 10-2003-0033174 (2003-05-01) |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020010064435 |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2001-10-18) |
| 심사진행상태 | 거절결정(일반) |
| 법적상태 | 거절 |
본 발명은 3차원 스캐너를 이용한 대상물을 측정하는 방법에 관한 것으로, 측정 대상물의 표면이 반사체인 경우 표면의 난반사로 인하여 측정 데이터의 정확도가 떨어지는 것을 해결한 반사 표면을 갖는 문화유물의 3차원 형상 측정방법에 관한 것이다. 본 발명의 방법은 3차원 스캐너와 측정 대상물 사이에 편광필터장치를 배치하는 단계; 상기 3차원 스캐너와 측정 대상물 사이에 조명장치를 배치하는 단계; 및 상기 3차원 스캐너를 통하여 획득한 데이터를 컴퓨터 시스템을 이용하여 3차원 모델링하여 그래픽 데이터를 획득하는 단계로 이루어진다. 획득된
비접촉 3차원 스캐너를 이용한 대상물의 측정방법으로서,3차원 스캐너와 측정 대상물 사이에 편광필터장치를 배치하는 단계;상기 3차원 스캐너와 측정 대상물 사이에 조명장치를 배치하는 단계; 및상기 3차원 스캐너를 통하여 획득한 데이터를 컴퓨터 시스템을 이용하여 3차원 모델링하여 그래픽 파일로 생성하고 저장하는 단계를 포함하는 반사표면을 갖는 문화유물의 3차원 형상 측정방법.
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