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Directional reflectometer for measuring optical bidirectional reflectance 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/02
  • G01N-021/47
출원번호 US-0484576 (1995-06-07)
발명자 / 주소
  • Davis Keith J. (Issaquah WA) Rawlings Diane C. (Bellevue WA)
출원인 / 주소
  • The Boeing Company (Seattle WA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 30  인용 특허 : 0

초록

The present invention is a directional reflectometer that measures the optical bidirectional reflectance distribution function [BRDF]of a surface in situ on a finished article, e.g. a vehicle, to provide information on its surface emissivity. The light wavelength may be IR, near-IR or visible. Light

대표청구항

A directional reflectometer for measuring the optical bidirectional reflectance of a surface, comprising: (a) a source of light in a frequency range of interest; (b) an ellipsoid reflector having an upper and lower focus and positioned to receive light from the source; (c) a gimbaled mirror at the u

이 특허를 인용한 특허 (30)

  1. Williams, Timothy Leroy; Rawlings, Diane C., Aerodynamic microstructures having sub-microstructures.
  2. Wilt Robert ; Toth George Eugene, Analytical quantification and process control.
  3. Dana,Kristin J., Apparatus and method for measuring spatially varying bidirectional reflectance distribution function.
  4. Benesch, Norbert; Schneider, Claus; Pfitzner, Lothar, Apparatus for rapidly measuring angle-dependent diffraction effects on finely patterned surfaces.
  5. Perlin,Kenneth, BRDF analyzer.
  6. Chen, Hsing-Cheng, Bi-directional reflectance distribution function determination by large scale field measurement.
  7. Bonnet, Gerhard, Bi-directional reflectance distribution measuring instrument.
  8. Rawlings, Diane C., Color applications for aerodynamic microstructures.
  9. Hager, J. Stewart, Device for remote sensing of vehicle emission.
  10. Wilcken, Stephen, Full hemisphere bi-directional reflectance distribution function instrument.
  11. Carter Ron R. ; Pleskot Larry K., Imaging scatterometer.
  12. Keith J. Davis, Instrument for rapidly characterizing material reflectance properties.
  13. Raymond, Christopher, Line profile asymmetry measurement.
  14. Raymond, Christopher, Line profile asymmetry measurement.
  15. Raymond, Christopher J., Line profile asymmetry measurement using scatterometry.
  16. Simpson, Jeffrey A.; Imbrock, Mark A., Method and apparatus for detecting properties of reflective transparent surface coatings on a sheet of transparent material.
  17. Han,Jefferson Y.; Perlin,Kenneth, Method and apparatus for determining a bidirectional reflectance distribution function, subsurface scattering or a bidirectional texture function of a subject.
  18. Han, Jefferson Y.; Perlin, Kenneth, Method and apparatus for determining reflectance data of a subject.
  19. Han, Jefferson Y.; Perlin, Kenneth, Method and apparatus for determining reflectance data of a subject.
  20. Dana, Kristin; Livescu, Gabriela; Lu, Yicheng, Method and apparatus for making and detecting a document verification indicator using optical pattern encryption.
  21. Simpson,Jeffrey A.; Imbrock,Mark A., Method and apparatus for protecting an optical transmission measurement when sensing transparent materials.
  22. Simpson, Jeffrey A.; Imbrock, Mark A.; Strimpel, Nathan, Method of enhancing measurement of stress in glass.
  23. Rawlings, Diane C.; Keough, Bruce K.; Olli, Larry K.; Burg, Alan G.; Kestner, James M.; Granger, George Michael; McGarvey, James Charles, Multilayer riblet applique and methods of producing the same.
  24. Rawlings, Diane C.; Williams, Timothy Leroy; McGarvey, James C.; Kestner, James M.; Burg, Alan G., Optical effects for aerodynamic microstructures.
  25. Casteleiro, Carlos A., Optical gimbal apparatus.
  26. Wadman, Sipke, Optical inspection of test surfaces.
  27. Wadman, Sipke, Optical measurement device with reduced contact area.
  28. Delacour,Jacques, Portable device for measuring the light intensity from an object, and the use of such a device.
  29. Graham,Hsueh Mei W.; Carter, Jr.,Harris G., System and method for correction for angular spread in determining optical properties of materials.
  30. Simpson, Jeffrey A.; Imbrock, Mark A.; Strimpel, Nathan, System for detecting coatings on transparent or semi-transparent materials.
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