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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0484576 (1995-06-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 30 인용 특허 : 0 |
The present invention is a directional reflectometer that measures the optical bidirectional reflectance distribution function [BRDF]of a surface in situ on a finished article, e.g. a vehicle, to provide information on its surface emissivity. The light wavelength may be IR, near-IR or visible. Light
A directional reflectometer for measuring the optical bidirectional reflectance of a surface, comprising: (a) a source of light in a frequency range of interest; (b) an ellipsoid reflector having an upper and lower focus and positioned to receive light from the source; (c) a gimbaled mirror at the u
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