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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2003-0033366 (2003-05-26) |
공개번호 | 10-2004-0101674 (2004-12-03) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020030033366 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 취하(심사미청구) |
법적상태 | 취하 |
본 발명은 DRAM 소자의 셀 캐패시터에 MPS 공정을 적용할 때 건조 효율을 개선시키는 웨이퍼 클리닝 공정에 이용되는 건조 방법 및 건조기를 개시한다.본 발명은 DRAM 소자의 셀 캐패시터를 형성하기 위한 MPS(METASTABLE POLY SILICON) 증착 공정에서 MPS 그레인 성장 전 클리닝 공정에 적용되며, 식각액을 사용하여 스토리지 노드 실리콘 표면에 생성되는 계면 산화막을 제거하는 공정, 상기 계면 산화막이 제거된 후 탈이온수를 사용하여 웨이퍼를 세정하는 공정, 및 세정된 상기 웨이퍼를 IPA(ISOPROPHIL
DRAM 소자의 셀 캐패시터를 형성하기 위한 MPS(METASTABLE POLY SILICON) 증착 공정에서 MPS 그레인 성장 전 클리닝 공정에 있어서,식각액을 사용하여 스토리지 노드 실리콘 표면에 생성되는 계면 산화막을 제거하는 공정,상기 계면 산화막이 제거된 후 탈이온수를 사용하여 웨이퍼를 세정하는 공정, 및세정된 상기 웨이퍼를 IPA(ISOPROPHIL ALCOHOL)를 사용하여 건조시키는 공정을 포함함을 특징으로 하는 웨이퍼 클리닝 공정에 이용되는 건조 방법.
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