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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2003-0053707 (2003-08-04) |
공개번호 | 10-2005-0016810 (2005-02-21) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020030053707 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2003-08-04) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
다수의 구멍이 천공된 다층인쇄기판의 오류를 검사하기 위한 회로기판 검사장치가 개시된다. 본 발명에 의한 회로기판 검사장치는, 전원장치와 이미지 형성장치를 그 내부에 포함하며, 상부면에 검사대를 구비하는 회로기판 검사장치 본체; 회로기판 검사장치 본체에서 상측을 향해 연장형성된 지지암; 생성된 방사선이 검사대를 경유하여, 이미지 형성장치로 향하도록 지지암에 설치되며, 표시장치와 일체로 형성된 방사선 발생장치; 방사선 발생장치의 외부 케이스에 설치되어, 방사선 발생장치가 작동할 경우, 발광유닛을 작동시켜 표준방사선마크를 점등하는 발광부
전원장치와, 검사대와, 방사선 발생장치와, 이미지 형성장치 및 표시장치를 구비한 회로기판 검사장치에 있어서, 상기 전원장치와 이미지 형성장치를 그 내부에 포함하며, 상부면에 검사대를 구비하는 회로기판 검사장치 본체; 상기 회로기판 검사장치 본체에서 상측을 향해 연장형성된 지지암; 생성된 방사선이 상기 검사대를 경유하여, 상기 이미지 형성장치로 향하도록 상기 지지암에 설치되며, 표시장치와 일체로 형성된 방사선 발생장치; 상기 방
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