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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2005-0004107 (2005-01-17) |
공개번호 | 10-2005-0077014 (2005-07-29) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020050004107 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2005-01-17) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 높은 유전상수를 갖는 용매를 사용하여 중합체의 전기분무에 의해 발생되는 전하 감소된 이온의 이동성 측정에 의해 중합체의 질량을 분석하는 방법에 관한 것이다. 전기분무에 의해 형성된 중합체 이온은 그 길이 및 이에 따른 질량에 비례하는 전하의 수준을 운반한다. 결과 중합체 이온의 전하 수는 방사선 공급원내의 1(유니티(UNITY))로 감소된다. 감소된 전하 중합체 이온의 이동성 분포는 그 후 고분해능 차동 이동성 분석기(DMA)에서 측정된다. 중합체의 이동성 Z 및 그 질량 M 사이의 관계 Z(M)은 협소하게 분포된 중합체
(A) 중합체 및 하나 이상의 기준 중합체를 전기분무하는 단계; (B) 고분해능 차동 이동 분석기를 사용하여 상기 중합체 및 하나 이상의 기준 중합체의 이온 이동성을 측정하는 단계; 및 (C) 그 상응하는 측정된 중합체 이온 이동성으로부터 중합체 분자량을 계산하여 상기 하나 이상의 기준 중합체와 비교하여 상기 중합체의 분자량을 얻는 단계 를 포함하는 중합체의 분자량 분포 측정방법.
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