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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2006-0063220 (2006-07-06) |
공개번호 | 10-2008-0004648 (2008-01-10) |
등록번호 | 10-0858992-0000 (2008-09-10) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020060063220 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2006-07-06) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 지문을 이용한 적성검사방법에 관한 것으로 고객으로부터 채취한 지문 이미지와 고객의 정보를 입력받게 되는 제1단계와; 채취된 지문 이미지를 처리하여 노이즈를 제거하고 세선화작업을 통해 융선부분만을 남긴 후 형태에 따라 분류하게 되는 제2단계와; 각 손가락의 지문의 형태와 인간의 지능을 다양한 영역으로 분류한 가드너의 다중지능영역을 매칭시키게 되는 제3단계와; 각 손가락의 지문의 형태와 기 분류된 학습방법을 매칭시키는 제4단계와; 각 손가락의 지문의 형태와 기 분류된 개인특성을 매칭시키는 제5단계와; 상기 지문 이미지를 분석
고객으로부터 채취한 지문 이미지와 고객의 정보를 입력받게 되는 제1단계와;채취된 지문 이미지를 처리하여 노이즈를 제거하고 세선화작업을 통해 융선부분만을 남긴 후 형태에 따라 분류하게 되는 제2단계와;각 손가락의 지문의 형태와 인간의 지능을 다양한 영역으로 분류한 가드너의 다중지능영역을 매칭시키게 되는 제3단계와;각 손가락의 지문의 형태와 기 분류된 학습방법을 매칭시키는 제4단계와;각 손가락의 지문의 형태와 기 분류된 개인특성을 매칭시키는 제5단계와;상기 지문 이미지를 분석한 결과를 고객에게 통지하는 제6단계;를 포함하여 구성되는 것
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