초록 ▼

본 발명은 플라즈마 반응기의 전류와 전압을 측정함으로써 파라미터를 계산할 수 있는 방법을 제공함에 목적이 있다.본 발명에 따른 대기압 플라즈마 반응기의 파라미터 계산 방법은, 대기압 플라즈마 반응기가 동작하기 전에 반응기에 인가되는 실효치전류와 실효치전압을 검출하는 단계; 검출된 상기 실효치전류와 실효치전압에 대하여 제로 크로싱을 이용하여 상기 실효치전압과 실효치전류간의 위상차를 검출하는 단계; 상기 실효치전압과 실효치전류 그리고 위상차를 이용하여 무효전력을 추출하는 단계; 상기 무효전력을 이용하여 상기 대기압 플라즈마 반응기의 통

본 발명은 플라즈마 반응기의 전류와 전압을 측정함으로써 파라미터를 계산할 수 있는 방법을 제공함에 목적이 있다.본 발명에 따른 대기압 플라즈마 반응기의 파라미터 계산 방법은, 대기압 플라즈마 반응기가 동작하기 전에 반응기에 인가되는 실효치전류와 실효치전압을 검출하는 단계; 검출된 상기 실효치전류와 실효치전압에 대하여 제로 크로싱을 이용하여 상기 실효치전압과 실효치전류간의 위상차를 검출하는 단계; 상기 실효치전압과 실효치전류 그리고 위상차를 이용하여 무효전력을 추출하는 단계; 상기 무효전력을 이용하여 상기 대기압 플라즈마 반응기의 통합 커패시턴스를 계산하는 단계; 상기 대기압 플라즈마 반응기 내 가스 방전 전압의 변곡점을 검출함으로써 상기 대기압 플라즈마 반응기의 동작 시점을 찾아내는 단계; 상기 대기압 플라즈마 반응기 동작 시점에서의 가스 방전 개시 인가 전압을 계산하는 단계; 및 가스 방전 개시 전압, 측정된 가스 방전 개시 인가 전압을 이용하여 상기 통합 커패시턴스 내 제1 커패시턴스와 제2 커패시턴스의 관계식을 구하는 단계를 포함한다.

대표청구항 ▼

대기압 플라즈마 반응기가 동작하기 전에 반응기에 인가되는 실효치전류와 실효치전압을 검출하는 단계;검출된 상기 실효치전류와 실효치전압에 대하여 제로 크로싱을 이용하여 상기 실효치전압과 실효치전류간의 위상차를 검출하는 단계;상기 실효치전압과 실효치전류 그리고 위상차를 이용하여 무효전력을 추출하는 단계;상기 무효전력을 이용하여 상기 대기압 플라즈마 반응기의 통합 커패시턴스를 계산하는 단계;상기 대기압 플라즈마 반응기 내 가스 방전 전압의 변곡점을 검출함으로써 상기 대기압 플라즈마 반응기의 동작 시점을 찾아내는 단계;상기 대기압 플라즈마

대기압 플라즈마 반응기가 동작하기 전에 반응기에 인가되는 실효치전류와 실효치전압을 검출하는 단계;검출된 상기 실효치전류와 실효치전압에 대하여 제로 크로싱을 이용하여 상기 실효치전압과 실효치전류간의 위상차를 검출하는 단계;상기 실효치전압과 실효치전류 그리고 위상차를 이용하여 무효전력을 추출하는 단계;상기 무효전력을 이용하여 상기 대기압 플라즈마 반응기의 통합 커패시턴스를 계산하는 단계;상기 대기압 플라즈마 반응기 내 가스 방전 전압의 변곡점을 검출함으로써 상기 대기압 플라즈마 반응기의 동작 시점을 찾아내는 단계;상기 대기압 플라즈마 반응기 동작 시점에서의 가스 방전 개시 인가 전압을 계산하는 단계; 및가스 방전 개시 전압, 측정된 가스 방전 개시 인가 전압을 이용하여 상기 통합 커패시턴스 내 제1 커패시턴스와 제2 커패시턴스의 관계식을 구하는 단계를 포함하는 대기압 플라즈마 반응기의 파라미터 계산 방법.