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| 국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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| 국제특허분류(IPC9판) |
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| 출원번호 | 10-2007-0012969 (2007-02-08) |
| 공개번호 | 10-2008-0074240 (2008-08-13) |
| 등록번호 | 10-1058388-0000 (2011-08-16) |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020070012969 |
| 발명자 / 주소 | |
| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2009-02-11) |
| 심사진행상태 | 등록결정(일반) |
| 법적상태 | 등록 |
본 발명은 전지셀의 두께, 전압 및 저항을 동시에 측정하는 검사 장치로서, 검사를 위해 전지셀이 탑재되는 하부판재; 상기 하부판재 상에 탑재되는 전지셀의 상면에 밀착될 수 있도록 하부판재에 대해 상하로 수직 이동하는 구조의 상부판재; 전지셀의 전압 및 저항을 측정할 수 있도록, 상기 상부판재에 위치 고정된 상태에서 전지셀의 전극 탭에 접촉되는 한 쌍의 전극 측정부재들; 상기 전극 측정부재들에 연결되어 있는 임피던스 측정기; 상기 하부판재에 위치 고정된 상태에서 상부판재의 상부면에 대한 거리를 측정하여 전지셀의 두께로 환산하는 두께
전지셀의 두께, 전압 및 저항을 동시에 측정하는 검사 장치로서, (a) 검사를 위해 전지셀이 탑재되는 하부판재; (b) 상기 하부판재 상에 탑재되는 전지셀의 상면에 밀착될 수 있도록 하부판재에 대해 상하로 수직 이동하는 구조의 상부판재;(c) 전지셀의 전압 및 저항을 측정할 수 있도록, 상기 상부판재에 위치 고정된 상태에서 전지셀의 전극 탭에 접촉되는 한 쌍의 전극 측정부재들;(d) 상기 전극 측정부재들에 연결되어 있는 임피던스 측정기;(e) 상기 하부판재에 위치 고정된 상태에서 상부판재의 상부면에 대한 거리를 측정하여 전지셀의 두
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