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연합인증

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프로브 카드용 니들 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • G01R-001/067
  • G01R-001/073
출원번호 10-2008-0063060 (2008-06-30)
공개번호 10-2010-0002991 (2010-01-07)
등록번호 10-0949984-0000 (2010-03-22)
DOI http://doi.org/10.8080/1020080063060
발명자 / 주소
  • 장경규 / 인천광역시 연수구 동춘*동 현대아파트 ***동 ***호
  • 방호섭 / 인천광역시 연수구 연수동 우성 *차 ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 장경규 / 인천광역시 연수구 동춘*동 현대아파트 ***동 ***호
대리인 / 주소
  • 홍주의
심사청구여부 있음 (2008-06-30)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

프로브 카드용 니들이 개시된다. 프로브 카드용 니들은 니켈을 함유하는 제 1 금속층; 상기 제 1 금속층의 상하로 금으로 도금된 제 2 금속층; 상기 제 2 금속층의 상기 제 1 금속층의 반대면에 백금족 원소로 도금된 제 3 금속층; 및 상기 제 3 금속층의 상기 제 1 금속층의 반대면에 금으로 도금된 제 4 금속층;을 포함한다. 따라서, 종래의 니켈 코발트로 형성된 프로브용 니들에 비해서 내열성이 증대되며, 내마모성 및 탄성이 좋은 프로브 카드용 니들을 제공할 수 있다.

대표청구항

니켈을 함유하는 제 1 금속층;상기 제 1 금속층의 상하로 금으로 도금된 제 2 금속층;상기 제 2 금속층의 상기 제 1 금속층의 반대면에 백금족 원소로 도금된 제 3 금속층; 및상기 제 3 금속층의 상기 제 1 금속층의 반대면에 금으로 도금된 제 4 금속층;을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 카드용 니들.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 다층 코팅을 가진 반도체 검사용 프로브 및 프로브 모듈 | 김정엽, 이승모, 김광섭
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