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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2009-0074696 (2009-08-13) |
공개번호 | 10-2011-0017158 (2011-02-21) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020090074696 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2009-08-13) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 광을 이용한 측정장치 및 측정방법에 관한 것으로, 특히 슬릿광을 이용하여 높이를 측정할 때 화각 발생을 억제하여 빛의 산란에 의한 효과를 최소화 할 수 있는 광삼각법을 이용한 측정장치 및 측정방법에 관한 것이다.광과 슬릿장치로 이루어진 슬릿광 발광수단과 카메라를 포함하는 이미지획득수단과 획득된 이미지로부터 형상을 산출하는 이미지처리부로 이루어진 광삼각법을 이용한 측정장치에 있어서, 상기 슬릿광 발광수단의 끝단에는 평행광 생성을 위한 렌즈가 구비된다.또한, 광과 슬릿장치로부터 슬릿광이 발광되어 측정대상물에 투영되며, 반사된
광(11)과 슬릿장치(12)로 이루어진 슬릿광 발광수단(10)과 카메라를 포함하는 이미지획득수단(20)과 획득된 이미지로부터 형상을 산출하는 이미지처리부(60)로 이루어진 광삼각법을 이용한 측정장치에 있어서,상기 슬릿광 발광수단의 끝단에는 평행광 생성을 위한 렌즈(30)가 구비됨을 특징으로 하는 광삼각법을 이용한 측정장치.
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