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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2009-0135873 (2009-12-31) |
등록번호 | 10-0979558-0000 (2010-08-26) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020090135873 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2009-12-31) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 등록 |
본 발명은방사능 분석중 상시 냉각을 유지해야 하는 중량변화를 이용하여 고순도 게르마늄 검출기 액체 질소 보관용기에 수납된 액체 질소의 수위를 연속으로 측정하기 위한 교정방법에 관한 것으로, 게르마늄 검출기, Si(Li) 검출기, 고순도 게르마늄 검출기를 포함하여 이루어지고 시료의 물리적 특성을 측정하는 측정유닛이 구성되고, 상기 측정유닛의 하부에는 내부용기와 외부용기가 이격되어 배치되는 보관용기와, 제 1측이 상기 측정유닛에 연장되고 제 2 측이 상기 내부용기의 내에 배치되어 상기 측정유닛의 열을 흡수하는 열전달부와, 상기 보관용기
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