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연합인증

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반도체 장치의 제조 방법, 반도체 제조 장치 및 기억 매체 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • H01L-021/306
  • H01L-021/3063
  • B82Y-099/00
출원번호 10-2009-7014359 (2009-07-09)
공개번호 10-2009-0097920 (2009-09-16)
등록번호 10-1063088-0000 (2011-08-31)
국제출원번호 PCT/JP2007/074669 (2007-12-21)
국제공개번호 WO2008084658 (2008-07-17)
번역문제출일자 2009-07-09
DOI http://doi.org/10.8080/1020097014359
발명자 / 주소
  • 나가세키 스미에 / 일본 야마나시켄 니라사키시 호사카초 미츠자와 *** 도쿄 엘렉트론 가부시키가이샤 내
출원인 / 주소
  • 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 / 일본 도쿄도 미나토쿠 아카사카 *쵸메 *반 *고
대리인 / 주소
  • 제일특허법인
심사청구여부 있음 (2009-07-09)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

반도체 장치의 제조 방법은 개구(개구부)(88)에 의한 소정의 패턴이 형성된 반도체 장치 제조용의 기판(W)에 대해, 에칭 처리 또는 성막 처리를 실행하는 방법이다. 반도체 장치의 제조 방법은 적어도 한쪽이 에칭 처리 또는 성막 처리에 관여하는 성분을 포함하는 액체 및 기체를 혼합하여, 상기 반도체 장치 제조용의 기판(W)에 형성된 상기 개구(88)의 치수보다 작은 직경으로 이루어지고, 액체와 기체의 혼합에 의해 대전한 나노 버블(85)을 상기 액체중에 발생시키는 공정과, 상기 나노 버블(85)을 상기 기판(W)의 표면에 인입하기

대표청구항

원형 혹은 홈으로 된 개구에 의한 소정의 패턴이 형성된 반도체 장치 제조용의 기판에 대해, 에칭 처리 또는 성막 처리를 실행하는 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 적어도 한쪽이 에칭 처리 또는 성막 처리에 관여하는 성분을 포함하는 액체 및 기체를 혼합하여, 상기 반도체 장치 제조용의 기판에 형성된 상기 개구의 직경 혹은 홈 폭보다도 작은 직경으로 이루어지고, 액체와 기체의 혼합에 의해 대전한 나노 버블을 상기 액체중에 발생시키는 공정과, 상기 나노 버블을 상기 기판의 표면에 인입하기 위해 전계를 형성하는 공정과, 상기 전계를 형성

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 액 처리 방법 및 액 처리 장치 | 이토 유다이, 도바시 가즈야, 사이토 미사코
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