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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2010-0067108 (2010-07-12) |
등록번호 | 10-1059141-0000 (2011-08-18) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020100067108 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2010-07-12) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 측정 대상 매질에서 측정된 반사계수를 이용하여 유전 손실값을 산출할 수 있도록 한 유전 손실값 산출 방법에 관한 것으로, 측정 대상 매질의 반사계수를 측정하는 단계; 상기 반사계수로부터 임피던스를 계산하는 단계; 상기 임피던스로부터 각속도를 추출하는 단계; 상기 각속도를 이용하여 상기 측정 대상 매질의 큐(quality factor) 값을 계산하는 단계; 및 상기 큐 값을 이용하여 유전 손실값을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
프로브에 충전되어 있는 측정 대상 매질의 반사계수를 측정하는 단계;상기 반사계수로부터 임피던스를 계산하는 단계;상기 임피던스로부터 각속도를 추출하는 단계;상기 각속도를 이용하여 상기 측정 대상 매질의 큐 팩터(quality factor)를 계산하는 단계; 및상기 큐 팩터를 이용하여 유전 손실값을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유전 손실값 측정 방법.
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