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연합인증

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웨이퍼 절단 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/301
  • H01L-021/02
출원번호 10-2012-0115964 (2012-10-18)
등록번호 10-1373421-0000 (2014-03-05)
DOI http://doi.org/10.8080/1020120115964
발명자 / 주소
  • 장경영 / 서울 성동구 고산자로 ***, ***동 ***호 (응봉동, 대림강변타운)
  • 최성호 / 서울 성동구 왕십리로 ***, 자동차공학과 공업센터 ***-*호 별관 (행당동, 한양대학교)
출원인 / 주소
  • 한양대학교 산학협력단 / 서울 성동구 왕십리로 ***, 내 (행당동, 한양대학교)
대리인 / 주소
  • 특허법인무한
심사청구여부 있음 (2012-10-18)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

일 실시예에 따른 웨이퍼 절단 장치는 웨이퍼의 상부에 위치되어 레이저 빔을 발생시키는 레이저 발생기, 상기 레이저 발생기 및 웨이퍼 사이에 배치되어 레이저 빔이 통과할 수 있는 복수 개의 슬릿을 포함하는 슬릿마스크 및 상기 슬릿마스크 및 상기 웨이퍼 사이에 배치되어 상기 슬릿마스크를 통과한 레이저 빔을 굴절시키는 렌즈를 포함하며, 상기 슬릿의 개수에 대응하는 수의 선 배열 레이저 빔이 상기 웨이퍼 상에 조사되고, 상기 선 배열 레이저 빔 사이에 상기 웨이퍼에 가해진 초기 균열이 전파되어 상기 웨이퍼를 절단할 수 있다.

대표청구항

웨이퍼의 상부에 위치되어 레이저 빔을 발생시키는 레이저 발생기;상기 레이저 발생기 및 웨이퍼 사이에 배치되어 레이저 빔이 통과할 수 있는 복수 개의 슬릿을 포함하는 슬릿마스크; 및상기 슬릿마스크 및 상기 웨이퍼 사이에 배치되어 상기 슬릿마스크를 통과한 레이저 빔을 굴절시키는 렌즈;를 포함하며,상기 슬릿의 개수에 대응하는 수의 선 배열 레이저 빔이 상기 웨이퍼 상에 조사되고, 상기 선 배열 레이저 빔 사이에 초기 균열이 제공되며, 상기 레이저 빔의 조사가 시작되면 상기 초기 균열의 끝부분에 열 응력이 집중되면서 상기 웨이퍼에 제공된

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. [한국] 웨이퍼 절단용 레이저 시스템 및 이를 이용한 웨이퍼 절단방법 | 한유희, 박정래
  2. [한국] 레이저 빔을 이용한 기판의 가공 방법 | 조성일, 진호태, 김희석, 오선주
  3. [일본] LASER LIFT-OFF APPARATUS | MATSUDA RYOZO, NARUMI KEIJI

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 빔 프로파일의 제어가 가능한 레이저 리페어 장치 | 김경남, 김홍식, 이성준
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