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[한국특허] 오엘이디 패널용 기판 어레이 검사장치 및 검사방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/28
  • G01R-031/00
  • H05B-033/10
출원번호 10-2013-0043287 (2013-04-19)
등록번호 10-1391840-0000 (2014-04-28)
DOI http://doi.org/10.8080/1020130043287
발명자 / 주소
  • 박태훈 / 경기 용인시 수지구 수지로***번길 **, ***동 ***호 (풍덕천동, 현대아파트)
출원인 / 주소
  • (주)넥스틴 / 경기도 성남시 분당구 판교로 *** ,엠텍아이티타워지하*층(삼평동)
대리인 / 주소
  • 특허법인세원
심사청구여부 있음 (2013-04-19)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

OLED 패널용 기판을 진행시키면서 검사 위치에 차례로 기판상의 단자들을 정렬시키는 기판이송부, 이 검사 위치에서 정렬된 기판상의 단자 패드들과 접촉 및 이격 동작을 하는 프로브핀들을 가지는 테스트부, 기판상의 단자 패드들과 테스트부의 프로브핀들이 접촉하는 동안 그 접촉 상태를 촬영할 수 있는 촬영부, 촬영부에 의해 촬영된 영상 데이타를 가공하여 단자 패드들과 프로브핀들의 접촉상태의 이상을 판단하는 영상처리부를 구비하며, 기판이송부는 기판이 놓이는 이송테이블과 이 이송테이블 위의 기판을 이동시키는 이동부를 구비하고, 검사 위치에서

대표청구항

삭제

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [일본] EVALUATION ANALYSIS SYSTEM AND PROBE CARD | KITAURA TOMOHIRO
  2. [일본] SUBSTRATE INSPECTION DEVICE | KIM HYON JOON

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. [한국] 디스플레이 패널용 검사장치 | 박진영
  2. [한국] 센서칩 성능 검사 방법 및 장치 | 김학출, 이수철, 박민웅
  3. [한국] 표시소자의 검사장치 | 전승화
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