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연합인증

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스테이지 스케일 보정 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01B-011/16
  • B23K-026/02
출원번호 10-2013-0068363 (2013-06-14)
등록번호 10-1432155-0000 (2014-08-13)
DOI http://doi.org/10.8080/1020130068363
발명자 / 주소
  • 황성재 / 경기 화성시 **용사로 ***, ****동 ****호 (능동, 송골마을우남퍼스트빌아파트)
  • 김민수 / 경기 오산시 운암로 ***, ***동 ***호 (부산동, 운암주공*단지아파트)
  • 이용훈 / 인천 남동구 양지로 **, 다동 ***호 (구월동, 은혜빌라)
  • 김재헌 / 경기 수원시 권선구 경수대로***번길 **, ***동 ****호 (권선동, 성지아파트)
출원인 / 주소
  • 에이피시스템 주식회사 / 경기도 화성시 동탄면 동탄산단*길 **-*
대리인 / 주소
  • 남승희
심사청구여부 있음 (2013-06-14)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 기판이 안착된 스테이지의 이동량을 측정하는 스테이지 스케일의 측정값을 보정하는 방법에 관한 것으로서, 스테이지 스케일이 변형되더라도 정확한 측정이 이루어지도록 하는 스테이지 스케일 보정 방법이다. 본 발명의 실시 형태는 일끝단과 타끝단을 잇는 길이 방향을 따라 팽창 또는 수축이 발생하는 스테이지 스케일의 일끝단 변형량 및 타끝단 변형량을 스테이지에 형성된 마크를 이용하여 측정하는 변형량 측정 과정과, 상기 일끝단 변형량 및 타끝단 변형량을 이용하여 스테이지 이동량 산출시에 적용되는 스케일 팩터를 산출하는 스케일 팩터 산출

대표청구항

일끝단과 타끝단을 잇는 길이 방향을 따라 팽창 또는 수축이 발생하는 스테이지 스케일의 일끝단 변형량 및 타끝단 변형량을 스테이지에 형성된 마크를 이용하여 측정하는 변형량 측정 과정;상기 일끝단 변형량 및 타끝단 변형량을 이용하여 스테이지 이동량 산출시에 적용되는 스케일 팩터를 산출하는 스케일 팩터 산출 과정;상기 산출한 스케일 팩터를 적용하여 스테이지의 이동값과 스테이지의 위치 보정값을 산출하는 스케일 팩터 적용 과정;를 포함하는 스테이지 스케일 보정 방법.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 스테이지의 위치 보정 방법 및 장치 | 오범정
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