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소형 전자부품 검사용 프로브장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/26
  • H01L-021/66
출원번호 10-2013-0151299 (2013-12-06)
등록번호 10-1381225-0000 (2014-03-28)
DOI http://doi.org/10.8080/1020130151299
발명자 / 주소
  • 심학보 / 경기 안양시 동안구 경수대로 ***, ***동 ****호 (호계동, 호계e-편한세상아파트)
  • 김선호 / 서울 강서구 가로공원로 ***, B동 ***호 (화곡동, 이가채빌라)
출원인 / 주소
  • 주식회사 한산테크 / 경기도 의왕시 오전공업길 **, 에이동 ***호, ***호 (오전동,벽산선영테크노피아)
심사청구여부 있음 (2013-12-06)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록 ▼

본 발명은 표면실장기술(SMT) 머신에서 소형화된 전자부품을 회로기판(PCB)에 자동으로 실장하고 납땜하는 과정에서 단자들의 실장위치가 미세하게 틀어지더라도 검사용 지그에 회로기판의 단자들 위치를 잡아주는 단자정렬수단을 마련함으로써, 전자부품 검사의 정밀도가 향상되고, 또한 프로브들이 단자들과 정확하게 접촉되므로 프로브들의 편마모 및 휨불량이 발생되지 않는 소형 전자부품 검사용 프로브장치에 관한 것이다.이를 위하여 본 발명은 지그수단의 표면에 마련된 회로기판자리에 전자부품이 표면실장기술(SMT) 머신에 의해 납땜된 회로기판을 올려놓

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