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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2013-0156233 (2013-12-16) | |
공개번호 | 10-2015-0040728 (2015-04-15) | |
등록번호 | 10-1841050-0000 (2018-03-16) | |
우선권정보 | 대한민국(KR) 1020130118988 (2013-10-07) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020130156233 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2016-05-13) | |
심사진행상태 | 등록결정(재심사후) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 식각 조성물, 이를 이용한 패턴화된 절연막의 제조 방법, 패턴화된 절연막 및 이를 포함하는 반도체 소자에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 식각 조성물은 평면의 식각면을 형성할 수 있다.그 결과 상기 식각 조성물로 식각된 절연막은 후속 공정에 도입될 수 있는 금속막 등을 우수한 품질로 형성하게 할 수 있다.또한, 상기 식각 조성물은 실리콘 산화막 및 실리콘 질화막을 동시에 식각할 수 있어 효율적으로 패턴화된 절연막을 제공할 수 있다.
실리콘 산화막 및 실리콘 질화막의 적층막을 식각하는 식각 조성물에 있어서,상기 적층막에 하기 수식 1의 값이 5°이하인 패턴을 형성하기 위하여 불화수소 0.5 내지 5.5 중량부, 불화암모늄 5 내지 40 중량부, 유기산으로 이미노디아세트산 0.1 내지 4.5 중량부 및 용매로서 물 50 내지 95 중량부로 이루어지는 식각 조성물:[수식 1]│X - Y│상기 수식 1에서, X는 대상막의 하부 식각면의 접선과 대상막이 형성된 기판의 면이 이루는 각이며, Y는 대상막의 상부 식각면의 접선과 대상막이 형성된 기판의 면이 이루는 각이고,상
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